屏蔽电子系统抗静电放电辐射场研究
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-8页 |
第一章 绪论 | 第8-18页 |
·研究背景 | 第8-9页 |
·国内外研究现状 | 第9-17页 |
·ESD电磁场的研究现状 | 第10-13页 |
·ESD与电子设备能量耦合的理论研究现状 | 第13-15页 |
·ESD与电子设备能量耦合的实验研究现状 | 第15-17页 |
·主要研究内容 | 第17-18页 |
第二章 时域有限差分方法(FDTD) | 第18-31页 |
·FDTD的应用领域 | 第18-19页 |
·FDTD的优越性 | 第19-20页 |
·FDTD的基本原理 | 第20-31页 |
·时域有限差分法的基本方程 | 第20-25页 |
·数值解的稳定性 | 第25页 |
·数值色散问题 | 第25-26页 |
·激励源的设置 | 第26页 |
·FDTD吸收边界条件 | 第26-31页 |
第三章 ESD与电子设备能量耦合的数值分析 | 第31-42页 |
·激励源的设定 | 第31-32页 |
·屏蔽腔体的计算模型 | 第32-35页 |
·模型的建立 | 第32-34页 |
·程序的流程 | 第34-35页 |
·计算结果分析 | 第35-41页 |
·本章小结 | 第41-42页 |
第四章 ESD与电子设备能量耦合的实验分析 | 第42-63页 |
·实验中对测试系统的要求及实验方法 | 第42-45页 |
·实验中对测试系统的要求 | 第42-43页 |
·实验方法 | 第43-45页 |
·接触式静电放电与电子设备电磁耦合关系的实验分析 | 第45-50页 |
·空气式静电放电与电子设备电磁耦合关系的实验分析 | 第50-61页 |
·放电电流峰值与放电电压的关系 | 第52-55页 |
·耦合电压峰峰与放电电压的关系 | 第55-61页 |
·本章小结 | 第61-63页 |
第五章 总结 | 第63-65页 |
参考文献 | 第65-68页 |
致谢 | 第68-69页 |
附录 研究生期间所发表的论文 | 第69页 |