电噪声虚拟仪器测量软件的改进与电参数测试系统研制
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| ·电子器件低频噪声和常规电参数检测的意义 | 第9-10页 |
| ·噪声和常规参数测试分析的国内外现状 | 第10-12页 |
| ·本论文工作内容 | 第12-13页 |
| 第二章 电子器件噪声理论与检测系统基础 | 第13-27页 |
| ·半导体器件低频噪声基础与检测系统 | 第13-15页 |
| ·噪声基础 | 第13-14页 |
| ·噪声检测系统基本原理 | 第14-15页 |
| ·半导体器件常规电参数检测系统 | 第15-24页 |
| ·常规电参数检测系统简介 | 第15-16页 |
| ·源测量单元基本原理 | 第16-24页 |
| ·基于虚拟仪器的测试测量系统与LabVIEW | 第24-27页 |
| ·虚拟仪器的概念和优点 | 第24-25页 |
| ·LabVIEW介绍 | 第25-27页 |
| 第三章 电子器件低频噪声虚拟仪器测试系统的改进 | 第27-39页 |
| ·原电子器件低频噪声测试系统 | 第27-30页 |
| ·原电子器件低频噪声测试系统介绍 | 第27-28页 |
| ·原测试系统存在的问题 | 第28-30页 |
| ·采样不连续问题的解决 | 第30-32页 |
| ·采样不连续的原因及解决方法 | 第30-31页 |
| ·改进后系统的采集效果 | 第31-32页 |
| ·对硬件的过载保护措施 | 第32-33页 |
| ·数字滤波功能 | 第33-36页 |
| ·Butterworth低通滤波器 | 第33-34页 |
| ·软件实现 | 第34-35页 |
| ·滤波效果 | 第35-36页 |
| ·系统资源使用的优化 | 第36-37页 |
| ·对系统操作人性化的改进 | 第37-39页 |
| 第四章 电子器件电参数自动测量分析系统研制 | 第39-71页 |
| ·GPIB总线和RS－232 总线 | 第39-42页 |
| ·GPIB总线 | 第39-41页 |
| ·RS－232 总线 | 第41-42页 |
| ·测量功能需求分析和测试原理 | 第42-47页 |
| ·电阻测量需求分析 | 第42页 |
| ·电容测量需求分析 | 第42-43页 |
| ·二极管测量需求分析 | 第43-44页 |
| ·三极管测量需求分析 | 第44-45页 |
| ·场效应管测量需求分析 | 第45-46页 |
| ·脉冲测量需求分析 | 第46-47页 |
| ·系统方案设计 | 第47-52页 |
| ·系统的硬件设计与实现 | 第47-49页 |
| ·系统的软件设计与实现 | 第49-52页 |
| ·系统的功能分析和性能验证 | 第52-71页 |
| ·针对外围仪器(238)系统实现的基本功能 | 第52-55页 |
| ·针对电子元器件常规参数测试的功能 | 第55-65页 |
| ·性能分析及验证 | 第65-71页 |
| 第五章 结束语 | 第71-75页 |
| ·论文成果 | 第71-72页 |
| ·进一步展望 | 第72-75页 |
| 致谢 | 第75-77页 |
| 参考文献 | 第77-79页 |
| 在研期间主要研究成果 | 第79页 |
