| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第一章 电压波动和闪变 | 第9-16页 |
| 1．1 研究背景 | 第9-11页 |
| 1．2 研究的现状 | 第11-15页 |
| 1．2．1 检测技术的现状 | 第11-13页 |
| 1．2．2 电能质量分析理论的现状 | 第13-15页 |
| 1．3 本论文的工作 | 第15-16页 |
| 第二章 电能质量的概念 | 第16-31页 |
| 2．1 电能质量术语 | 第16页 |
| 2．2 电能质量的基本概念及定义 | 第16-18页 |
| 2．3 电能质量的分类 | 第18-21页 |
| 2．4 电能质量现象描述 | 第21-28页 |
| 2．4．1 瞬变现象 | 第21-22页 |
| 2．4．2 短时间电压变动 | 第22-24页 |
| 2．4．3 长时间电压变动 | 第24-25页 |
| 2．4．4 电压不平衡 | 第25页 |
| 2．4．5 波形畸变 | 第25-27页 |
| 2．4．6 电压波动 | 第27-28页 |
| 2．4．7 工频变化 | 第28页 |
| 2．5 电能质量标准简介 | 第28-30页 |
| 2．6 小结 | 第30-31页 |
| 第三章 电压波动和闪变的数学分析理论 | 第31-43页 |
| 3．1 电压波动和闪变的分析方法 | 第31页 |
| 3．2 从傅立叶分析到小波分析 | 第31-39页 |
| 3．2．1 傅立叶分析 | 第32-33页 |
| 3．2．2 短时傅立叶变换 | 第33-36页 |
| 3．2．3 小波分析 | 第36-39页 |
| 3．3 多分辨率(Multi-Resolution Analysis,MRA)与Mallat算法 | 第39-42页 |
| 3．4 小波包分析 | 第42页 |
| 3．5 本章小结 | 第42-43页 |
| 第四章 电压波动和闪变的小波分析及其仿真研究 | 第43-62页 |
| 4．1 概述 | 第43页 |
| 4．2 电压波动和闪变的测量原理及方法 | 第43-45页 |
| 4．2．1 电压闪变的数学模型 | 第44页 |
| 4．2．2 电压闪变信号的包络检波原理 | 第44-45页 |
| 4．3 仿真分析 | 第45-60页 |
| 4．3．1 含有单一闪变频率分量的闪变信号分析仿真 | 第45-49页 |
| 4．3．2 含有多个闪变频率分量的闪变信号分析仿真 | 第49-52页 |
| 4．3．3 含有突变信号的闪变模型 | 第52-55页 |
| 4．3．4 含有随机干扰的电压闪变分析 | 第55-57页 |
| 4．3．5 有突变的电压闪变模型 | 第57-60页 |
| 4．3．6 小波变换与傅立叶变换对闪变信号的分析仿真的对比 | 第60页 |
| 4．4 小结 | 第60-62页 |
| 第五章 基于ARM7的实验装置的开发和实现 | 第62-76页 |
| 5．1 ARM微处理器概述 | 第62-65页 |
| 5．1．1 ARM-Advanced RISC Machines | 第62页 |
| 5．1．2 ARM7微处理器系列特点 | 第62页 |
| 5．1．3 ARM微处理器结构 | 第62-63页 |
| 5．1．4 ARM微处理器的应用选型 | 第63-65页 |
| 5．2 ARM7(S3C44B0)硬件介绍 | 第65-66页 |
| 5．3 S3C44B0的特性 | 第66-69页 |
| 5．4 系统结构图 | 第69-73页 |
| 5．5 硬件系统的调试 | 第73-74页 |
| 5．6 本章小结 | 第74-76页 |
| 第六章 总结与展望 | 第76-82页 |
| 致谢 | 第82页 |
