| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-20页 |
| ·集成电路测试的重要性 | 第10-11页 |
| ·可测性设计 | 第11-14页 |
| ·Ad-Hoc的可测试性设计方法 | 第11页 |
| ·结构化的可测试性设计方法 | 第11-14页 |
| ·存储器测试 | 第14-18页 |
| ·存储器测试的重要性 | 第14-15页 |
| ·存储器测试的方法 | 第15-18页 |
| ·存储器测试的难点 | 第18页 |
| ·论文的主要内容及工作安排 | 第18-20页 |
| 第二章 存储器的故障模型及测试算法 | 第20-34页 |
| ·存储器基本概念 | 第20-21页 |
| ·存储器的类型 | 第20-21页 |
| ·存储器的功能模型 | 第21页 |
| ·存储器的缺陷和故障模型 | 第21-25页 |
| ·存储器的缺陷 | 第21-22页 |
| ·存储器的故障类型 | 第22-25页 |
| ·存储器的故障分析 | 第25-29页 |
| ·故障原语的定义 | 第25-26页 |
| ·单一单元故障类型 | 第26-27页 |
| ·耦合故障类型 | 第27-29页 |
| ·常用嵌入式存储器测试算法 | 第29-32页 |
| ·MSCAN算法 | 第29页 |
| ·Checkerboard算法 | 第29-30页 |
| ·GALPAT算法 | 第30-31页 |
| ·March算法 | 第31-32页 |
| ·各种测试算法的比较 | 第32页 |
| ·本章小结 | 第32-34页 |
| 第三章 嵌入式存储器测试的MARCH算法研究 | 第34-62页 |
| ·经典的MARCH算法比较 | 第34-36页 |
| ·MARCH算法的研究方法 | 第36-37页 |
| ·单一单元故障的MARCH算法研究 | 第37-40页 |
| ·状态故障（SF） | 第37页 |
| ·转换故障（TF） | 第37-38页 |
| ·写干扰故障（WDF） | 第38页 |
| ·读破坏故障（RDF） | 第38页 |
| ·错误读故障（IRF） | 第38-39页 |
| ·伪读破坏故障（DRDF） | 第39页 |
| ·单一单元故障的March算法总结 | 第39-40页 |
| ·耦合故障的MARCH算法研究 | 第40-55页 |
| ·状态耦合故障（CFst） | 第41-43页 |
| ·干扰耦合故障（CFdsrx） | 第43-45页 |
| ·干扰耦合故障（CFdsxwx） | 第45-46页 |
| ·干扰耦合故障（CFdsxw!x） | 第46-48页 |
| ·转换耦合故障（CFtr） | 第48-49页 |
| ·写破坏耦合故障（CFwd） | 第49-51页 |
| ·读破坏耦合故障（CFrd） | 第51-52页 |
| ·伪读破坏耦合故障（CFdrd） | 第52-53页 |
| ·错误读耦合故障（CFir） | 第53页 |
| ·耦合故障的March算法总结 | 第53-55页 |
| ·基于65NM工艺的新MARCH算法研究 | 第55-60页 |
| ·对WDF和DRDF的分析 | 第56页 |
| ·对耦合故障CFdsxwx，CFdrd，CFwd的分析 | 第56-58页 |
| ·对数据保持故障DRF的分析 | 第58-60页 |
| ·本章小结 | 第60-62页 |
| 第四章 新算法的电路实现与仿真验证 | 第62-78页 |
| ·MBIST电路的实现 | 第62-66页 |
| ·嵌入式存储器建模 | 第62-63页 |
| ·MBIST电路结构 | 第63-64页 |
| ·MBIST电路生成 | 第64-66页 |
| ·MBIST电路的应用与模块级连接 | 第66-69页 |
| ·片选信号改进 | 第66页 |
| ·低功耗设计 | 第66-67页 |
| ·高速时钟频率下的存储器测试 | 第67页 |
| ·旁路电路改进 | 第67-69页 |
| ·MBIST电路的芯片级连接 | 第69-72页 |
| ·JTAG技术 | 第69-70页 |
| ·MBIST的并行连接 | 第70-72页 |
| ·电路与算法仿真结果 | 第72-76页 |
| ·March 28 算法仿真 | 第72-75页 |
| ·芯片顶层功能验证 | 第75-76页 |
| ·MBIST电路的后仿真 | 第76页 |
| ·本章小结 | 第76-78页 |
| 第五章 结论 | 第78-80页 |
| 致谢 | 第80-82页 |
| 参考文献 | 第82-84页 |