摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
1 绪论 | 第9-14页 |
1.1 研究背景及意义 | 第9-10页 |
1.2 国内外发展现状 | 第10-12页 |
1.3 主要研究内容 | 第12-14页 |
2 有限状态机的电路进化设计一般方法 | 第14-24页 |
2.1 有限状态机一般结构 | 第14-15页 |
2.2 有限状态机中组合逻辑模块的电路进化设计研究 | 第15-20页 |
2.2.1 笛卡尔遗传规划 | 第15-17页 |
2.2.2 基于输出分解的组合逻辑模块电路进化算法 | 第17-18页 |
2.2.3 基于输入投影分解的组合逻辑模块电路进化算法 | 第18-20页 |
2.3 基于FPGA在线进化硬件平台构建 | 第20-23页 |
2.3.1 基于VRC-FPGA的电路进化硬件平台一般结构 | 第20-21页 |
2.3.2 组合逻辑电路进化设计虚拟可重构电路VRC模块 | 第21-23页 |
2.4 本章小结 | 第23-24页 |
3 基于状态分解的有限状态机电路进化设计 | 第24-34页 |
3.1 基本原理 | 第24-25页 |
3.2 基于状态分解有限状态机电路进化设计硬件平台构建 | 第25-27页 |
3.2.1 基于状态分解有限状态机的状态转换模块 | 第25-26页 |
3.2.2 基于状态分解有限状态机电路进化设计算法流程 | 第26-27页 |
3.3 基于状态分解的ADC采样控制有限状态机电路进化原理 | 第27-31页 |
3.3.1 ADC0809采样控制有限状态机的工作原理 | 第27-28页 |
3.3.2 ADC0809采样控制电路状态分解 | 第28-31页 |
3.3.3 基于状态分解的ADC采样控制有限状态机结构 | 第31页 |
3.4 有限状态机ADC采样控制实验研究 | 第31-33页 |
3.5 本章小结 | 第33-34页 |
4 基于冗余修复技术的有限状态机电路进化设计 | 第34-43页 |
4.1 适应度函数Stalling effect现象 | 第34-35页 |
4.2 电路进化修复技术 | 第35-39页 |
4.2.1 电路进化修复技术基本原理 | 第35-37页 |
4.2.2 电路进化修复技术资源占用分析 | 第37页 |
4.2.3 利用“或非”门改进修复技术 | 第37-39页 |
4.3 基于冗余修复的电路进化技术 | 第39-41页 |
4.3.1 冗余修复的电路进化技术基本原理 | 第39-40页 |
4.3.2 基于冗余修复技术的进化算法流程 | 第40-41页 |
4.4 基于冗余修复的AD转换控制电路进化实验研究 | 第41-42页 |
4.5 本章小结 | 第42-43页 |
5 结论 | 第43-45页 |
5.1 总结 | 第43页 |
5.2 展望 | 第43-45页 |
参考文献 | 第45-50页 |
致谢 | 第50-51页 |
攻读学位期间取得的科研成果清单 | 第51页 |