SAW器件插入损耗的电路补偿方法研究
摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第一章 绪论 | 第7-14页 |
1.1 研究背景及意义 | 第7-8页 |
1.2 SAW器件的特点及其发展 | 第8-10页 |
1.2.1 声表面波器件的特点 | 第8页 |
1.2.2 声表面波器件的发展 | 第8-10页 |
1.3 国内外研究现状 | 第10-12页 |
1.4 研究的主要内容及组织结构 | 第12-14页 |
1.4.1 主要研究内容 | 第12-13页 |
1.4.2 论文的组织结构 | 第13-14页 |
第二章 SAW器件的基本原理 | 第14-19页 |
2.1 SAW器件的工作原理 | 第14页 |
2.2 瑞利波的性质 | 第14-15页 |
2.3 δ函数模型 | 第15-17页 |
2.4 P矩阵模型 | 第17-18页 |
2.5 本章小结 | 第18-19页 |
第三章 SAW器件插入损耗 | 第19-24页 |
3.1 SAW器件对压电材料的要求 | 第19-20页 |
3.1.1 压电材料 | 第19-20页 |
3.2 IDT结构 | 第20-23页 |
3.3 制备工艺 | 第23页 |
3.4 本章小结 | 第23-24页 |
第四章 SAW器件插入损耗的补偿方法 | 第24-32页 |
4.1 改进IDT结构降低插入损耗 | 第24-26页 |
4.2 外接有源补偿电路 | 第26-31页 |
4.2.1 LNA(低噪声放大器)的拓扑结构 | 第28-31页 |
4.3 本章小结 | 第31-32页 |
第五章 损耗补偿电路设计与仿真 | 第32-45页 |
5.1 对补偿电路的要求 | 第32-33页 |
5.2 电路的设计及分析 | 第33-40页 |
5.2.1 匹配网络的设计 | 第34-36页 |
5.2.2 噪声抵消技术 | 第36-38页 |
5.2.3 偏置电路的设计 | 第38-40页 |
5.3 仿真结果及分析 | 第40-44页 |
5.3.1 S参数仿真 | 第40-42页 |
5.3.2 Smith圆图仿真结果 | 第42-43页 |
5.3.3 噪声系数仿真 | 第43-44页 |
5.4 补偿电路的版图设计 | 第44页 |
5.5 本章小结 | 第44-45页 |
第六章 阻抗失配补偿电路的设计与仿真 | 第45-67页 |
6.1 容性失配串联仿真与分析 | 第46-48页 |
6.2 补偿阻抗电路设计与分析 | 第48-53页 |
6.3 容性失配并联仿真与分析 | 第53-56页 |
6.4 感性失配串联仿真与分析 | 第56-57页 |
6.5 补偿阻抗电路设计与分析 | 第57-62页 |
6.6 感性失配并联仿真与分析 | 第62-66页 |
6.7 本章小结 | 第66-67页 |
第七章 总结与展望 | 第67-70页 |
7.1 研究工作总结 | 第67-68页 |
7.2 展望 | 第68-70页 |
致谢 | 第70-71页 |
参考文献 | 第71-74页 |
附录 | 第74-75页 |