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一种源端由InAs材料掺杂的双栅隧穿场效应晶体管的研究

摘要第3-5页
Abstract第5-6页
第一章 绪论第9-16页
    1.1 TFET的发展历史第9-12页
    1.2 TFET器件的工作原理第12-13页
    1.3 TFET发展面临的挑战第13-15页
    1.4 本文主要内容第15-16页
第二章 InAsDGTFET基本结构和SILVACO-ATLAS模型第16-22页
    2.1 SILVACO-ATLAS仿真软件第16-20页
    2.2 InAsDGTFET结构和参数第20-21页
    2.3 所用仿真模型介绍第21-22页
第三章 InAsDGTFET器件的直流特性及其优化第22-35页
    3.1 InAsDGTFET的驱动电流第22-25页
    3.2 InAsDGTFET的I_(ON)/I_(OFF)和亚阈值斜率第25-28页
    3.3 器件参数优化第28-33页
        3.3.1 有源区掺杂浓度第28-31页
        3.3.2 栅功函数第31-32页
        3.3.3 体硅厚度第32-33页
    3.4 本章小结第33-35页
第四章 InAsDGTFET器件的交流特性第35-50页
    4.1 交流小信号模型第35-40页
    4.2 隧穿和沟道电阻研究第40-42页
    4.3 InAsDGTFET的射频特性及其稳定性研究第42-48页
        4.3.1 电容第42-43页
        4.3.2 频率第43-46页
        4.3.3 稳定性第46-48页
    4.4 本章小结第48-50页
第五章 总结与展望第50-52页
    5.1 本文总结第50-51页
    5.2 对后续工作的展望第51-52页
参考文献第52-55页
附图第55-57页
致谢第57-58页
攻读硕士学位期间发表的论文第58页

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