摘要 | 第3-4页 |
Abstract | 第4-5页 |
第一章 绪论 | 第8-17页 |
1.1 项目研究背景 | 第8-9页 |
1.2 热处理炉简介 | 第9-11页 |
1.3 温度检测方法 | 第11-15页 |
1.3.1 接触式测温 | 第12-13页 |
1.3.2 非接触式测温 | 第13-14页 |
1.3.3 结合反距离加权内插法比色测温技术在温度场监测中的应用 | 第14-15页 |
1.4 本课题研究内容 | 第15-17页 |
第二章 比色测温及应用算法 | 第17-26页 |
2.1 红外热辐射简介 | 第17-18页 |
2.2 热辐射定律 | 第18-21页 |
2.2.1 普朗克(Planck)辐射定律 | 第18-19页 |
2.2.2 维恩(Wien)位移定律 | 第19-20页 |
2.2.3 基尔霍夫(Kirchhoff)定律 | 第20页 |
2.2.4 斯蒂芬-玻耳兹曼定律 | 第20页 |
2.2.5 瑞利-琼斯公式 | 第20-21页 |
2.3 比色测温原理 | 第21-23页 |
2.4 算法及数值模拟 | 第23-25页 |
2.5 本章小结 | 第25-26页 |
第三章 系统构成及工作原理 | 第26-32页 |
3.1 测温系统的构成 | 第26-30页 |
3.1.1 近红外热成像系统 | 第26-28页 |
3.1.2 高温防护系统 | 第28页 |
3.1.3 靶标 | 第28-29页 |
3.1.4 数据处理系统 | 第29-30页 |
3.2 系统工作流程 | 第30-31页 |
3.3 本章小结 | 第31-32页 |
第四章 系统在线实验及数据分析 | 第32-48页 |
4.1 系统参数优化 | 第32-42页 |
4.1.1 相机参数设置 | 第32-33页 |
4.1.2 红外波段的选择 | 第33-36页 |
4.1.3 光学系统均匀性补偿 | 第36-39页 |
4.1.4 设备因子K值标定 | 第39-41页 |
4.1.5 热处理实验炉的选定 | 第41-42页 |
4.2 实验及数据分析 | 第42-45页 |
4.3 空间截面温度分布 | 第45-47页 |
4.4 本章总结 | 第47-48页 |
第五章 总结与展望 | 第48-50页 |
5.1 论文总结 | 第48-49页 |
5.2 后期展望 | 第49-50页 |
参考文献 | 第50-55页 |
致谢 | 第55-56页 |
攻读硕士期间发表学术论文 | 第56页 |