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USB3.0数字模块后端研究实现

摘要第5-6页
Abstract第6页
第一章 绪论第9-19页
    1.1 研究背景与意义第9-10页
    1.2 本课题的研究进展第10-17页
        1.2.1 IP的定义与分类第10-11页
        1.2.2 基于IP的SoC设计第11-12页
        1.2.3 国外IP和SoC的发展现状和趋势第12-14页
        1.2.4 国内IP和SoC的发展现状和趋势第14-15页
        1.2.5 SoC低功耗研究现状第15-16页
        1.2.6 USB3.0 发展现状第16-17页
    1.3 本课题主要研究内容第17-19页
第二章 低功耗数字后端设计方法研究第19-29页
    2.1 整体方案研究第19-21页
        2.1.1 数字后端设计流程第19-20页
        2.1.2 芯片USB功能测试流程第20-21页
    2.2 功耗原理及优化方法第21-27页
        2.2.1 动态功耗原理及优化方法第21-24页
        2.2.2 静态功耗原理及优化方法第24-27页
    2.3 本章小结第27-29页
第三章 基于USB3.0IP的数字后端实现第29-57页
    3.1 设计读入第29-34页
    3.2 布局和电源线规划第34-40页
        3.2.1 布局第34-37页
        3.2.2 电源线规划第37-38页
        3.2.3 数模隔离第38-40页
    3.3 标准单元摆放和时序、功耗优化第40-44页
        3.3.1 布线拥塞问题的优化第41页
        3.3.2 时序问题优化第41-42页
        3.3.3 功耗问题优化第42-44页
    3.4 时钟树综合和时序、功耗优化第44-47页
    3.5 布线和时序、功耗优化第47-55页
        3.5.1 布线第47-49页
        3.5.2 可制造性设计第49-55页
    3.6 本章小结第55-57页
第四章 后端设计验证及芯片USB功能测试第57-67页
    4.1 后端设计验证第57-60页
        4.1.1 物理验证第57-58页
        4.1.2 时序验证第58-59页
        4.1.3 形式验证第59-60页
        4.1.4 低功耗静态验证第60页
        4.1.5 功耗分析第60页
    4.2 芯片测试第60-65页
        4.2.1 USB3.0 协议测试—安捷伦实验室测试报告第61-62页
        4.2.2 USB3.0 功能测试第62-65页
    4.3 本章小结第65-67页
第五章 结论与展望第67-71页
参考文献第71-73页
致谢第73-75页
个人简历、在学期间发表的论文与研究成果第75页

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