摘要 | 第4-5页 |
ABSTRACT | 第5-6页 |
第1章 绪论 | 第9-20页 |
1.1 超材料简介 | 第9-10页 |
1.2 课题研究的背景和意义 | 第10-11页 |
1.3 国内外在该方向的研究现状及分析 | 第11-18页 |
1.4 国内外文献综述的简析 | 第18页 |
1.5 本文的主要研究内容 | 第18-20页 |
第2章 理论基础及数值分析方法 | 第20-27页 |
2.1 引言 | 第20页 |
2.2 电磁波的基本理论 | 第20-21页 |
2.3 金属的介电函数模型 | 第21-24页 |
2.3.1 Drude模型 | 第21-22页 |
2.3.2 Drude-Lorentz模型 | 第22页 |
2.3.3 Drude-Lorentz-Temperature模型 | 第22-24页 |
2.4 部分材料介电函数实验值 | 第24-25页 |
2.4.1 银不同温度下的介电函数实验值 | 第24-25页 |
2.4.2 Al_2O_3不同温度介电函数 | 第25页 |
2.5 数值分析方法 | 第25-26页 |
2.6 本章小结 | 第26-27页 |
第3章 三明治结构可见光波段耦合模拟 | 第27-41页 |
3.1 引言 | 第27页 |
3.2 三明治结构介绍 | 第27-29页 |
3.3 常温下光栅超材料耦合模拟 | 第29-37页 |
3.3.1 光谱分析及场分布 | 第29-31页 |
3.3.2 不同宽度w对光谱影响 | 第31-32页 |
3.3.3 不同周期p对光谱影响 | 第32-34页 |
3.3.4 占空比r固定时宽度w对光谱影响 | 第34页 |
3.3.5 介质层厚度d的影响 | 第34-35页 |
3.3.6 银层厚度t的影响 | 第35-37页 |
3.4 介电函数对光谱的影响 | 第37-39页 |
3.4.1 介电函数实部对光谱的影响 | 第37页 |
3.4.2 介电函数虚部对光谱的影响 | 第37-39页 |
3.5 不同温度模拟 | 第39-40页 |
3.5.1 光谱分析 | 第39-40页 |
3.5.2 占空比固定时光栅不同宽度对光谱影响 | 第40页 |
3.6 本章小结 | 第40-41页 |
第4章 三明治超材料的制备和测量 | 第41-64页 |
4.1 引言 | 第41页 |
4.2 光栅超材料的制备 | 第41-47页 |
4.2.1 制备前的准备工作 | 第42-45页 |
4.2.2 电子束曝光 | 第45-46页 |
4.2.3 镀膜及剥离 | 第46-47页 |
4.3 样品初次测量 | 第47-53页 |
4.3.1 样品形貌表征 | 第47-49页 |
4.3.2 结构常温光谱测量 | 第49-52页 |
4.3.3 结构不同温度光谱测量 | 第52-53页 |
4.4 光谱重新测量 | 第53-63页 |
4.4.1 样品形貌表征 | 第54-56页 |
4.4.2 样品常温光谱测量 | 第56-57页 |
4.4.3 样品低温光谱测量 | 第57-58页 |
4.4.4 表面附着层影响 | 第58-60页 |
4.4.5 Г_(surf)影响增大及验证 | 第60-63页 |
4.5 本章小结 | 第63-64页 |
结论 | 第64-65页 |
参考文献 | 第65-70页 |
攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第70-72页 |
致谢 | 第72页 |