摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
符号对照表 | 第10-11页 |
缩略语对照表 | 第11-15页 |
第一章 绪论 | 第15-23页 |
1.1 研究背景 | 第15-18页 |
1.1.1 发光材料的概述 | 第15-16页 |
1.1.2 材料基因组计划的兴起 | 第16-17页 |
1.1.3 组合材料芯片技术 | 第17-18页 |
1.2 国内外组合材料技术研究的现状 | 第18-20页 |
1.2.1 国外研究现状 | 第18-19页 |
1.2.2 国内研究现状 | 第19-20页 |
1.3 本文研究的内容和意义 | 第20-23页 |
1.3.1 本文研究的内容 | 第20-21页 |
1.3.2 本文研究的意义 | 第21-23页 |
第二章 发光材料组合试样库的自动测试系统 | 第23-35页 |
2.1 前言 | 第23-24页 |
2.1.1 设计思想 | 第23-24页 |
2.1.2 设计思路 | 第24页 |
2.2 自动测试系统中二维自动移动平台的搭建 | 第24-25页 |
2.3 自动测试系统中控制系统部分设计 | 第25-30页 |
2.3.1 AT89C52单片机简介 | 第25-26页 |
2.3.2 keil简介 | 第26-27页 |
2.3.3 步进电机的工作原理 | 第27-29页 |
2.3.4 控制系统的设计方法 | 第29-30页 |
2.4 自动测试系统中上位机的设计 | 第30-32页 |
2.4.1 上位机的概念 | 第30-31页 |
2.4.2 C | 第31页 |
2.4.3 实验数据的提取设计 | 第31页 |
2.4.4 操作界面制作的具体内容 | 第31-32页 |
2.5 自动测试系统的工作原理 | 第32-33页 |
2.6 本章小结 | 第33-35页 |
第三章 发光材料组合试样库的自动分析系统 | 第35-43页 |
3.1 前言 | 第35-36页 |
3.2 二元或三元组分发光材料利用MATLAB分析的方法 | 第36-40页 |
3.2.1 MATLAB简介 | 第36-38页 |
3.2.2 Matlab 与 C | 第38-39页 |
3.2.3 具体分析方法 | 第39-40页 |
3.3 三元以上发光材料利用遗传算法的分析方法 | 第40-41页 |
3.3.1 遗传算法的简介 | 第40页 |
3.3.2 分析过程 | 第40-41页 |
3.4 本章小结 | 第41-43页 |
第四章 自动测试分析系统的实现 | 第43-57页 |
4.1 前言 | 第43页 |
4.2 二元共掺杂Lu和La对Y_2SiO_5:Ce发光性能的研究 | 第43-47页 |
4.2.1 材料简介 | 第43页 |
4.2.2 样品制备 | 第43-45页 |
4.2.3 实验分析 | 第45-47页 |
4.3 二元共掺杂Sb和Bi对YAG:Tb发光性能的研究 | 第47-50页 |
4.3.1 材料简介 | 第47页 |
4.3.2 样品制备 | 第47-49页 |
4.3.3 实验分析 | 第49-50页 |
4.4 二元共掺杂Mn和Eu对BaMgAl_(10)O_(17):Eu~(2+)发光性能的研究 | 第50-52页 |
4.4.1 材料简介 | 第50页 |
4.4.2 样品制备 | 第50-51页 |
4.4.3 实验分析 | 第51-52页 |
4.5 三元体系碱土-氯磷酸盐发光材料发光性能的研究 | 第52-56页 |
4.5.1 材料简介 | 第52页 |
4.5.2 样品制备 | 第52-54页 |
4.5.3 实验分析 | 第54-56页 |
4.6 本章小结 | 第56-57页 |
第五章 总结与展望 | 第57-61页 |
5.1 总结 | 第57-58页 |
5.2 展望 | 第58-61页 |
参考文献 | 第61-65页 |
致谢 | 第65-67页 |
作者简介 | 第67-68页 |