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发光材料组合试样库自动测试分析系统的研究

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
符号对照表第10-11页
缩略语对照表第11-15页
第一章 绪论第15-23页
    1.1 研究背景第15-18页
        1.1.1 发光材料的概述第15-16页
        1.1.2 材料基因组计划的兴起第16-17页
        1.1.3 组合材料芯片技术第17-18页
    1.2 国内外组合材料技术研究的现状第18-20页
        1.2.1 国外研究现状第18-19页
        1.2.2 国内研究现状第19-20页
    1.3 本文研究的内容和意义第20-23页
        1.3.1 本文研究的内容第20-21页
        1.3.2 本文研究的意义第21-23页
第二章 发光材料组合试样库的自动测试系统第23-35页
    2.1 前言第23-24页
        2.1.1 设计思想第23-24页
        2.1.2 设计思路第24页
    2.2 自动测试系统中二维自动移动平台的搭建第24-25页
    2.3 自动测试系统中控制系统部分设计第25-30页
        2.3.1 AT89C52单片机简介第25-26页
        2.3.2 keil简介第26-27页
        2.3.3 步进电机的工作原理第27-29页
        2.3.4 控制系统的设计方法第29-30页
    2.4 自动测试系统中上位机的设计第30-32页
        2.4.1 上位机的概念第30-31页
        2.4.2 C第31页
        2.4.3 实验数据的提取设计第31页
        2.4.4 操作界面制作的具体内容第31-32页
    2.5 自动测试系统的工作原理第32-33页
    2.6 本章小结第33-35页
第三章 发光材料组合试样库的自动分析系统第35-43页
    3.1 前言第35-36页
    3.2 二元或三元组分发光材料利用MATLAB分析的方法第36-40页
        3.2.1 MATLAB简介第36-38页
        3.2.2 Matlab 与 C第38-39页
        3.2.3 具体分析方法第39-40页
    3.3 三元以上发光材料利用遗传算法的分析方法第40-41页
        3.3.1 遗传算法的简介第40页
        3.3.2 分析过程第40-41页
    3.4 本章小结第41-43页
第四章 自动测试分析系统的实现第43-57页
    4.1 前言第43页
    4.2 二元共掺杂Lu和La对Y_2SiO_5:Ce发光性能的研究第43-47页
        4.2.1 材料简介第43页
        4.2.2 样品制备第43-45页
        4.2.3 实验分析第45-47页
    4.3 二元共掺杂Sb和Bi对YAG:Tb发光性能的研究第47-50页
        4.3.1 材料简介第47页
        4.3.2 样品制备第47-49页
        4.3.3 实验分析第49-50页
    4.4 二元共掺杂Mn和Eu对BaMgAl_(10)O_(17):Eu~(2+)发光性能的研究第50-52页
        4.4.1 材料简介第50页
        4.4.2 样品制备第50-51页
        4.4.3 实验分析第51-52页
    4.5 三元体系碱土-氯磷酸盐发光材料发光性能的研究第52-56页
        4.5.1 材料简介第52页
        4.5.2 样品制备第52-54页
        4.5.3 实验分析第54-56页
    4.6 本章小结第56-57页
第五章 总结与展望第57-61页
    5.1 总结第57-58页
    5.2 展望第58-61页
参考文献第61-65页
致谢第65-67页
作者简介第67-68页

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