用于微光CCD的关联成像软件开发
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 符号对照表 | 第12-14页 |
| 缩略语对照表 | 第14-17页 |
| 第一章 绪论 | 第17-25页 |
| 1.1 关联成像发展历程 | 第17-21页 |
| 1.2 关联成像符合算法研究 | 第21-22页 |
| 1.3 本文的基本结构和主要内容 | 第22-25页 |
| 第二章 热光、赝热光关联特性研究 | 第25-49页 |
| 2.1 热光场的相干性实验和关联函数 | 第25-29页 |
| 2.1.1 一阶相干性和一阶关联函数 | 第25-27页 |
| 2.1.2 HBT实验和二阶关联函数 | 第27-29页 |
| 2.2 热光场的统计特性 | 第29-32页 |
| 2.3 赝热光场的关联特性 | 第32-44页 |
| 2.3.1 赝热光源 | 第32-33页 |
| 2.3.2 赝热光场的一阶关联特性 | 第33-39页 |
| 2.3.3 赝热光场的二阶关联特性 | 第39-44页 |
| 2.4 基于空间二阶关联函数的相干长度计算 | 第44-46页 |
| 2.5 本章小结 | 第46-49页 |
| 第三章 基于微光CCD的关联成像采集程序 | 第49-61页 |
| 3.1 关联成像采集基础 | 第49-55页 |
| 3.1.1 关联成像采集需求 | 第49-50页 |
| 3.1.2 CCD图像传感器简介 | 第50-54页 |
| 3.1.3 微光CCD性能参数 | 第54-55页 |
| 3.2 微光CCD采集程序实现 | 第55-59页 |
| 3.2.1 CCD采集流程和策略分析 | 第55-58页 |
| 3.2.2 采集程序结果分析 | 第58-59页 |
| 3.3 本章小结 | 第59-61页 |
| 第四章 关联成像的正负涨落符合算法实现与分析 | 第61-93页 |
| 4.1 关联成像中的符合测量算法发展 | 第61-68页 |
| 4.1.1 符合测量基础 | 第61-63页 |
| 4.1.2 量子纠缠光源的符合测量分析 | 第63-65页 |
| 4.1.3 赝热光源符合计算分析 | 第65-68页 |
| 4.2 基于强度涨落的正负涨落符合算法分析 | 第68-81页 |
| 4.2.1 强度涨落和强度涨落的测量 | 第68-73页 |
| 4.2.2 正负涨落符合算法描述 | 第73-76页 |
| 4.2.3 正负涨落符合算法理论分析 | 第76-81页 |
| 4.3 基于强度涨落的PNFC算法的软件实现 | 第81-83页 |
| 4.4 关联成像PNFC算法结果分析 | 第83-92页 |
| 4.4.1 散斑强度涨落分析 | 第83-86页 |
| 4.4.2 散斑强度涨落HBT关联结果分析 | 第86-90页 |
| 4.4.3 反射关联成像结果分析 | 第90-92页 |
| 4.5 本章小结 | 第92-93页 |
| 第五章 总结与展望 | 第93-95页 |
| 5.1 总结 | 第93页 |
| 5.2 展望 | 第93-95页 |
| 参考文献 | 第95-99页 |
| 致谢 | 第99-101页 |
| 作者简介 | 第101-102页 |
