数字集成电路测试方法研究
| 摘要 | 第1-8页 |
| Abstract | 第8-16页 |
| 第1章 绪论 | 第16-33页 |
| ·课题研究背景及意义 | 第16-17页 |
| ·数字集成电路生存周期及其测试过程 | 第17-20页 |
| ·数字集成电路生存周期 | 第17-19页 |
| ·数字集成电路测试过程 | 第19-20页 |
| ·数字集成电路测试生成方法及其研究现状 | 第20-28页 |
| ·数字集成电路测试压缩方法及其研究现状 | 第28-30页 |
| ·论文主要研究内容及结构安排 | 第30-33页 |
| 第2章 数字集成电路测试生成关键技术 | 第33-53页 |
| ·引言 | 第33页 |
| ·数字集成电路测试生成过程 | 第33-35页 |
| ·建立系统模型 | 第35-38页 |
| ·电路模型 | 第35-37页 |
| ·故障模型 | 第37-38页 |
| ·故障等价与故障压缩 | 第38-42页 |
| ·可测性分析与计算 | 第42-48页 |
| ·可测性分析方法 | 第42-44页 |
| ·可测性计算方法 | 第44页 |
| ·扫描电路可测性分析与计算 | 第44-48页 |
| ·故障模拟器 | 第48-52页 |
| ·现有故障模拟技术 | 第49-50页 |
| ·PROOFS故障模拟器 | 第50-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第3章 数字集成电路测试生成方法研究 | 第53-80页 |
| ·引言 | 第53页 |
| ·基于遗传算法的测试生成方法 | 第53-57页 |
| ·遗传算法基本原理 | 第53-56页 |
| ·遗传算法全局收敛性 | 第56-57页 |
| ·基于蚂蚁算法的测试生成方法 | 第57-66页 |
| ·蚂蚁算法基本原理 | 第57-58页 |
| ·蚂蚁算法规则定义 | 第58-59页 |
| ·基于蚂蚁算法和遗传算法的测试生成过程 | 第59-63页 |
| ·测试向量生成实例 | 第63-66页 |
| ·有限扫描测试生成方法 | 第66-75页 |
| ·基于同步时序电路测试生成的方法 | 第67-72页 |
| ·基于测试集转化的方法 | 第72-75页 |
| ·实验结果与分析 | 第75-79页 |
| ·本章小结 | 第79-80页 |
| 第4章 数字集成电路测试序列质量提高方法研究 | 第80-99页 |
| ·引言 | 第80-81页 |
| ·n探测测试质量评价方法 | 第81-83页 |
| ·组合测试集质量评价方法 | 第81-82页 |
| ·测试质量评价方法的补充 | 第82-83页 |
| ·有限扫描测试序列质量评价方法 | 第83页 |
| ·有限扫描测试序列特点 | 第83-86页 |
| ·有限扫描测试序列质量提高方法 | 第86-95页 |
| ·基于随机性的方法 | 第87-91页 |
| ·基于扫描选择子序列的方法 | 第91-95页 |
| ·实验结果及分析 | 第95-98页 |
| ·本章小结 | 第98-99页 |
| 第5章 数字集成电路静态测试压缩方法研究 | 第99-114页 |
| ·引言 | 第99页 |
| ·基于向量删除的静态测试压缩方法 | 第99-103页 |
| ·有限扫描静态测试压缩方法 | 第103-110页 |
| ·有限扫描静态测试压缩过程 | 第103-106页 |
| ·启发式方法 | 第106-108页 |
| ·改进的有限扫描静态测试压缩过程 | 第108-110页 |
| ·实验结果及分析 | 第110-113页 |
| ·本章小结 | 第113-114页 |
| 结论 | 第114-116页 |
| 参考文献 | 第116-124页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第124页 |
| 攻读学位期间参与的科研项目 | 第124-125页 |
| 致谢 | 第125页 |
