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百万门级专用集成电路的FPGA验证

摘要第1-5页
Abstract第5-8页
第一章 绪论第8-16页
   ·目前ASIC 所面临的挑战第8-9页
     ·设计的风险第8页
     ·验证瓶颈第8-9页
   ·FPGA 验证技术第9-13页
     ·思想提出第9-10页
     ·技术权衡第10-11页
     ·FPGA 的发展对ASIC 的支撑第11-13页
   ·论文的目的、意义及其章节的安排第13-16页
     ·论文的目的和意义第13页
     ·论文的章节安排及内容介绍第13-16页
第二章 基于FPGA 验证的考虑第16-28页
   ·FPGA 的验证流程第16-17页
   ·基于FPGA 验证正确性考虑第17-18页
   ·基于可验证性角度考虑第18-20页
     ·可验证的考虑第18页
     ·可验证举例第18-19页
     ·软件协助方面第19-20页
   ·基于验证全面性考虑第20-23页
     ·测试点的来源第20-22页
     ·测试点的分类第22页
     ·测试点的级别和测试活动第22-23页
   ·基于验证效率的考虑第23-25页
     ·TCL 简介第23页
     ·TCL 对于测试的意义第23-24页
     ·TCL 自动化测试的原理第24-25页
   ·基于验证可重用性考虑第25-26页
   ·小结第26-28页
第三章 验证的前期工作第28-44页
   ·硬件考虑第28-36页
     ·关于FPGA 的选型第28-29页
     ·关于FPGA 的划分第29-32页
     ·关于管脚的分配第32-34页
     ·关于验证板的设计第34-36页
   ·软件考虑第36-41页
     ·代码考虑第36-37页
     ·综合和布局布线第37-39页
     ·时序问题的解决第39-41页
   ·小结第41-44页
第四章 模块验证及系统验证第44-56页
   ·环境搭建第44-46页
   ·验证方法第46-53页
     ·基本思想第47页
     ·环回法第47-48页
     ·告警、性能分析法第48-50页
     ·仪表测试法第50-51页
     ·更改配置法第51页
     ·替换法第51页
     ·复位法第51页
     ·其他方法第51-53页
   ·TCL 和自动化测试第53-55页
     ·测试原理第53-54页
     ·测试脚本编写及原理第54页
     ·测试脚本调试第54-55页
   ·小结第55-56页
第五章 验证确认第56-60页
   ·回归验证第56页
   ·验证分析第56-58页
   ·验证随想第58页
   ·小结第58-60页
第六章 总论第60-62页
致谢第62-64页
参考文献第64-66页
研究成果第66-68页
附录A 缩略语第68-70页
附录B TCL 语言应用第70-82页
附录C 综合约束脚本第82-84页
附录D 布局约束脚本第84-88页

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