百万门级专用集成电路的FPGA验证
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-8页 |
第一章 绪论 | 第8-16页 |
·目前ASIC 所面临的挑战 | 第8-9页 |
·设计的风险 | 第8页 |
·验证瓶颈 | 第8-9页 |
·FPGA 验证技术 | 第9-13页 |
·思想提出 | 第9-10页 |
·技术权衡 | 第10-11页 |
·FPGA 的发展对ASIC 的支撑 | 第11-13页 |
·论文的目的、意义及其章节的安排 | 第13-16页 |
·论文的目的和意义 | 第13页 |
·论文的章节安排及内容介绍 | 第13-16页 |
第二章 基于FPGA 验证的考虑 | 第16-28页 |
·FPGA 的验证流程 | 第16-17页 |
·基于FPGA 验证正确性考虑 | 第17-18页 |
·基于可验证性角度考虑 | 第18-20页 |
·可验证的考虑 | 第18页 |
·可验证举例 | 第18-19页 |
·软件协助方面 | 第19-20页 |
·基于验证全面性考虑 | 第20-23页 |
·测试点的来源 | 第20-22页 |
·测试点的分类 | 第22页 |
·测试点的级别和测试活动 | 第22-23页 |
·基于验证效率的考虑 | 第23-25页 |
·TCL 简介 | 第23页 |
·TCL 对于测试的意义 | 第23-24页 |
·TCL 自动化测试的原理 | 第24-25页 |
·基于验证可重用性考虑 | 第25-26页 |
·小结 | 第26-28页 |
第三章 验证的前期工作 | 第28-44页 |
·硬件考虑 | 第28-36页 |
·关于FPGA 的选型 | 第28-29页 |
·关于FPGA 的划分 | 第29-32页 |
·关于管脚的分配 | 第32-34页 |
·关于验证板的设计 | 第34-36页 |
·软件考虑 | 第36-41页 |
·代码考虑 | 第36-37页 |
·综合和布局布线 | 第37-39页 |
·时序问题的解决 | 第39-41页 |
·小结 | 第41-44页 |
第四章 模块验证及系统验证 | 第44-56页 |
·环境搭建 | 第44-46页 |
·验证方法 | 第46-53页 |
·基本思想 | 第47页 |
·环回法 | 第47-48页 |
·告警、性能分析法 | 第48-50页 |
·仪表测试法 | 第50-51页 |
·更改配置法 | 第51页 |
·替换法 | 第51页 |
·复位法 | 第51页 |
·其他方法 | 第51-53页 |
·TCL 和自动化测试 | 第53-55页 |
·测试原理 | 第53-54页 |
·测试脚本编写及原理 | 第54页 |
·测试脚本调试 | 第54-55页 |
·小结 | 第55-56页 |
第五章 验证确认 | 第56-60页 |
·回归验证 | 第56页 |
·验证分析 | 第56-58页 |
·验证随想 | 第58页 |
·小结 | 第58-60页 |
第六章 总论 | 第60-62页 |
致谢 | 第62-64页 |
参考文献 | 第64-66页 |
研究成果 | 第66-68页 |
附录A 缩略语 | 第68-70页 |
附录B TCL 语言应用 | 第70-82页 |
附录C 综合约束脚本 | 第82-84页 |
附录D 布局约束脚本 | 第84-88页 |