| Abstract | 第1-5页 |
| 摘要 | 第5-16页 |
| 1 Introduction | 第16-32页 |
| ·Definition of Surface | 第17-18页 |
| ·Electron scattering phenomena | 第18-20页 |
| ·Elastic electron scattering | 第18-19页 |
| ·Inelastic electron scattering | 第19-20页 |
| ·Electron spectroscopy | 第20-24页 |
| ·Surface sensitivity of electron probe | 第21-23页 |
| ·Surface sensitive electron spectroscopies | 第23-24页 |
| ·Excitation processes induced in a solid | 第24-26页 |
| ·Plasma oscillations confined to a surface | 第26-29页 |
| ·Surface excitations | 第27-29页 |
| ·Monte Carlo simulation | 第29-31页 |
| ·Layout of the dissertation | 第31-32页 |
| 2 Theoretical Modeling | 第32-48页 |
| ·Electron-solid elastic interaction | 第32-36页 |
| ·Differential elastic cross section | 第33-34页 |
| ·Total elastic cross section | 第34-36页 |
| ·Electron-solid inelastic interaction | 第36-37页 |
| ·Dielectric function theory | 第36-37页 |
| ·Self energy formalism for electron-solid interactions | 第37页 |
| ·Self energy of electron | 第37-44页 |
| ·Escaping electron (v⊥>0) | 第41-42页 |
| ·Incident electron (v⊥<0) | 第42-44页 |
| ·Inelastic scattering in real metals | 第44-45页 |
| ·Approximate energy loss function for arbitrary q-values | 第44-45页 |
| ·Surface excitation on real metal surfaces | 第45-48页 |
| 3 Monte Carlo Simulation Procedure | 第48-58页 |
| ·Monte Carlo methods for electron transport in solid | 第48-49页 |
| ·Brief description of basic concepts | 第49-51页 |
| ·Monte Carlo calculation procedure | 第51-58页 |
| ·Probability distribution function | 第51-53页 |
| ·Step length | 第53-54页 |
| ·Sampling procedure for depth z | 第54-55页 |
| ·Type of electron scattering | 第55-56页 |
| ·Type of inelastic electron scattering | 第56-58页 |
| 4 Surface Excitation Probabilities | 第58-80页 |
| ·Review of Surface Excitation Parameter | 第59-61页 |
| ·Total surface excitation probability | 第61-65页 |
| ·Results and discussion | 第65-80页 |
| 5 Average Number of Surface Plasmons | 第80-100页 |
| ·Normalized single scattering loss distribution | 第80-83页 |
| ·Quantification of surface excitation effect | 第83-87页 |
| ·Poisson process & Poisson distribution | 第83-85页 |
| ·Poisson distribution | 第85-86页 |
| ·Surface correction factor (SCF) | 第86-87页 |
| ·Probability of exactly one surface excitation event | 第87-89页 |
| ·Average number of surface excitations | 第89-91页 |
| ·Probability of exactly one surface plasmon event | 第91-100页 |
| 6 Begrenzung Features of Self Energy Formalism | 第100-122页 |
| ·Begrenzung effect | 第100-109页 |
| ·Energy and depth dependence of DIIMFP | 第102-109页 |
| ·Definition of present Π_s (E, α) and Begrenzung effect | 第109-111页 |
| ·Position dependent IIMFP | 第111-115页 |
| ·Surface Excitation Probability for normal and parallel movement | 第115-117页 |
| ·Correction for surface excitation effect | 第117-122页 |
| 7 Monte Carlo Simulation of Electron Interaction | 第122-160页 |
| ·Electron transport in solids | 第122-125页 |
| ·Electron-solid inelastic interaction | 第123-124页 |
| ·Electron-surface inelastic interaction | 第124-125页 |
| ·REELS spectra | 第125-130页 |
| ·Monte Carlo simulation of electron-solid interactions | 第130-135页 |
| ·Calculation of SEP from simulated REELS spectra | 第130-135页 |
| ·Method to compute SEP by using probability theory | 第135-148页 |
| ·Criterion to simulate occurrence of surface excitations | 第140-143页 |
| ·Simulated Electron Trajectories | 第143-144页 |
| ·Electron scattering sites along the depth | 第144-145页 |
| ·Depth distribution of absorbed electrons and surface plasmons | 第145-148页 |
| ·Monte Carlo simulation to compute SEP | 第148-151页 |
| ·Energy distribution of backscattered electrons from heavy metals | 第151-154页 |
| ·Modeling for secondary electron generation and emission | 第152-154页 |
| ·Backscattering energy spectra | 第154-160页 |
| 8 Conclusions | 第160-164页 |
| References | 第164-174页 |
| Appendix | 第174-200页 |
| A Collective oscillations in solids | 第174-177页 |
| B Bethe theory | 第177-179页 |
| C Description of inelastic scattering in terms of ε(q, ω) | 第179-188页 |
| C. 1 Kramers-Kroning method | 第182-183页 |
| C.2 Usage of optical data | 第183-188页 |
| D Excitation of surface plasmons by electrons | 第188-191页 |
| D.1 The energy loss function | 第189-191页 |
| E Categorization of electron spectroscopy | 第191-192页 |
| E.1 Electron in-electron out process | 第191页 |
| E.2 Photon in-electron out process | 第191-192页 |
| F Dispersion relation of Surface Plasmens | 第192-195页 |
| G Derivation of Poissen distribution | 第195-198页 |
| H Basic definitions of probabilities | 第198-200页 |
| List of Publications | 第200-202页 |
| Acknowledgements | 第202-203页 |
