嵌入式电池测试系统
| 中文摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-11页 |
| ·电池行业现状 | 第8页 |
| ·电池测试设备研究 | 第8-9页 |
| ·本课题任务及意义 | 第9-11页 |
| 第二章 实时系统VxWorks | 第11-17页 |
| ·嵌入式实时系统简介 | 第11-12页 |
| ·VxWorks 概述 | 第12-14页 |
| ·VxWorks 任务及中断 | 第14-17页 |
| ·多任务及任务间通信 | 第14-16页 |
| ·中断处理 | 第16-17页 |
| 第三章 中位机主系统硬件设计 | 第17-36页 |
| ·整体硬件框架 | 第17-18页 |
| ·主处理器单元 | 第18-21页 |
| ·S3C4510B 简介 | 第18-19页 |
| ·S3C4510B 配置连接 | 第19-21页 |
| ·FLASH 单元 | 第21-26页 |
| ·FLASH 存储器简介 | 第21页 |
| ·AM29LV320D 简介 | 第21-23页 |
| ·28F128 简介 | 第23页 |
| ·FLASH 存储系统构建 | 第23-24页 |
| ·关于28F128 的构建 | 第24-26页 |
| ·SDRAM 单元 | 第26-29页 |
| ·SDRAM 简介 | 第26页 |
| ·KM416S4030B 简介 | 第26-28页 |
| ·SDRAM 单元构建 | 第28-29页 |
| ·SRAM 单元 | 第29-31页 |
| ·SRAM 简介 | 第29-30页 |
| ·HM62V16256C 介绍 | 第30-31页 |
| ·SRAM 单元构建 | 第31页 |
| ·网络接口设计 | 第31-32页 |
| ·JTAG 接口设计 | 第32-34页 |
| ·UART 单元 | 第34-36页 |
| 第四章 中位机主系统软件设计 | 第36-49页 |
| ·UART 单元软件设计 | 第36-41页 |
| ·UART 单元寄存器简介 | 第36-39页 |
| ·UART 软件设计 | 第39-41页 |
| ·FLASH 单元软件设计 | 第41-43页 |
| ·FLASH 存储器的基本操作 | 第41-42页 |
| ·FLASH 操作的软件实现 | 第42-43页 |
| ·与显示控制模块通信的应用程序设计 | 第43-49页 |
| ·数据空间划分 | 第43-45页 |
| ·配置相关的宏定义 | 第43-44页 |
| ·NVRAM 空间划分 | 第44-45页 |
| ·FLASH 空间划分 | 第45页 |
| ·程序主流程设计 | 第45-49页 |
| ·入口函数 | 第45-46页 |
| ·t_receive 接收任务 | 第46-47页 |
| ·t_dealwith 操作任务 | 第47页 |
| ·测试数据的筛选算法 | 第47-49页 |
| 第五章 显示控制子系统 | 第49-70页 |
| ·子系统硬件设计 | 第49-53页 |
| ·液晶显示模块简介 | 第49-51页 |
| ·TS24012B 与51 单片机的连接 | 第51页 |
| ·键盘按键设计 | 第51-53页 |
| ·电池测试图形界面 | 第53-57页 |
| ·菜单设计 | 第53-55页 |
| ·基本界面及操作 | 第55-57页 |
| ·开机界面 | 第55页 |
| ·通道状态显示 | 第55-56页 |
| ·工步参数设置 | 第56页 |
| ·安全设置 | 第56-57页 |
| ·子系统软件设计 | 第57-70页 |
| ·T6963C 基本指令及驱动 | 第57-60页 |
| ·地址分配、映射及液晶初始化 | 第60-62页 |
| ·地址空间 | 第60页 |
| ·地址映射 | 第60-61页 |
| ·液晶配置及初始化 | 第61-62页 |
| ·图形函数模块设计 | 第62-66页 |
| ·汉字 | 第62-63页 |
| ·点 | 第63-64页 |
| ·线 | 第64-66页 |
| ·主程序流程介绍 | 第66-67页 |
| ·主系统与子系统间的通信设计 | 第67-70页 |
| 结束语 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-73页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第73-74页 |
| 发表的论文: | 第73页 |
| 参与的科研项目: | 第73-74页 |
| 致谢 | 第74页 |
