| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| ·工序能力指数概念及意义 | 第9-12页 |
| ·评价和保证元器件质量和可靠性的传统方法及存在问题 | 第9-10页 |
| ·评价元器件内在质量和可靠性的新思路 | 第10-11页 |
| ·工序能力及工序能力指数概念 | 第11-12页 |
| ·工序能力指数理论的发展 | 第12页 |
| ·研究意义及本论文的主要研究工作 | 第12-15页 |
| 第二章 工序能力指数基本概念及相关公式 | 第15-33页 |
| ·工序能力指数概述及常规计算方法 | 第15-18页 |
| ·工序能力指数 | 第15-16页 |
| ·Cp以及Cpk和成品率之间的关系 | 第16-18页 |
| ·工序能力指数与6σ设计 | 第18-19页 |
| ·正态随机数的产生及检验 | 第19-29页 |
| ·正态随机数的产生 | 第19-20页 |
| ·正态分布随机数的检验 | 第20-26页 |
| ·模拟实验数据的检验及选取 | 第26-29页 |
| ·特征值的计算方法 | 第29-30页 |
| ·本章小结 | 第30-33页 |
| 第三章 参数特征值与成品率 | 第33-43页 |
| ·样本特征值估算结果及分析 | 第33-38页 |
| ·合格产品特性参数分布与成品率的关系分析 | 第38-41页 |
| ·本章小结 | 第41-43页 |
| 第四章 工序能力指数的置信区间及对评价的影响 | 第43-53页 |
| ·置信区间的概念及计算方法 | 第43-45页 |
| ·模拟数据分析 | 第45-50页 |
| ·总体样本特征值的估算对置信区间的影响 | 第45-48页 |
| ·总体规范对置信区间的影响 | 第48-49页 |
| ·置信水平对置信区间的影响 | 第49-50页 |
| ·本章小结 | 第50-53页 |
| 第五章 嵌套分布 | 第53-63页 |
| ·嵌套分布的数学原理及其性质 | 第53-55页 |
| ·嵌套分布的概念 | 第53-54页 |
| ·嵌套分布数学模型 | 第54-55页 |
| ·模拟产生嵌套分布数据及其分析结果 | 第55-61页 |
| ·本章小结 | 第61-63页 |
| 第六章 结束语 | 第63-65页 |
| 致谢 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-69页 |
| 研究成果 | 第69-70页 |