PCB仿真检错中的关键技术研究
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-7页 |
第一章 绪论 | 第7-13页 |
·背景 | 第7页 |
·表面贴装技术 | 第7-8页 |
·虚拟制造技术 | 第8-9页 |
·可制造性分析 | 第9-10页 |
·板级电路可制造性分析仿真 | 第10页 |
·研究现状 | 第10页 |
·存在问题 | 第10页 |
·课题来源 | 第10-11页 |
·本文工作 | 第11-13页 |
第二章 PCB板级电路仿真系统总体设计 | 第13-17页 |
·系统总体设计 | 第13-14页 |
·系统框架设计需求 | 第13-14页 |
·PCB系统结构图 | 第14页 |
·系统功能介绍 | 第14-16页 |
·关键技术分析 | 第16页 |
·本章小结 | 第16-17页 |
第三章 PCB设计数据的获取 | 第17-35页 |
·异构EDA设计数据分析方法 | 第17-18页 |
·VeriBest设计数据分析 | 第18-26页 |
·元器件物理参数分析 | 第18-25页 |
·基板物理参数分析 | 第25-26页 |
·仿真文件设计 | 第26-29页 |
·EDA数据格式转换的设计 | 第29-34页 |
·关键数据结构设计 | 第29-30页 |
·提取流程与算法 | 第30-31页 |
·元器件中心坐标计算 | 第31-33页 |
·元器件圆弧描述方式转换计算 | 第33-34页 |
·本章小结 | 第34-35页 |
第四章 物理参数自适应扩充库的设计与实现 | 第35-45页 |
·EDA仿真数据自适应扩充研究 | 第35-36页 |
·自适应扩充需求分析 | 第35-36页 |
·自适应扩充数据源 | 第36页 |
·自适应扩充对象分析 | 第36页 |
·自适应扩充库详细设计 | 第36-41页 |
·自适应扩充库框架 | 第36-37页 |
·自适应库基本表设计 | 第37-39页 |
·基本表关系图 | 第39-40页 |
·元器件物理参数管理 | 第40-41页 |
·元器件物理参数自适应扩充 | 第41-43页 |
·自适应扩充流程 | 第41-42页 |
·自适应扩充实现 | 第42-43页 |
·本章小结 | 第43-45页 |
第五章 基于知识库的PCB检错研究 | 第45-59页 |
·PCB生产规则知识 | 第45页 |
·知识表示技术 | 第45-46页 |
·知识的定义 | 第45-46页 |
·知识的表示 | 第46页 |
·PCB生产规则知识表示方法的选择 | 第46页 |
·PCB生产规则知识表示 | 第46-51页 |
·PCB生产规则知识表示要求 | 第46-47页 |
·PCB生产规则知识描述 | 第47页 |
·生产规则知识表示 | 第47-50页 |
·PCB设计数据表示 | 第50-51页 |
·推理机制 | 第51-54页 |
·推理功能分析 | 第51页 |
·推理策略 | 第51-52页 |
·推理流程 | 第52-54页 |
·规则数据库设计 | 第54-57页 |
·规则数据库设计 | 第54-55页 |
·规则编号设计 | 第55-57页 |
·规则的添加与修改 | 第57页 |
·PCB检测知识库模型 | 第57-58页 |
·本章小结 | 第58-59页 |
第六章 结束语 | 第59-61页 |
致谢 | 第61-63页 |
参考文献 | 第63-65页 |
研究成果 | 第65页 |