| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 概述 | 第7-15页 |
| ·引言 | 第7-9页 |
| ·声表面波射频识别系统的工作原理 | 第9-11页 |
| ·声表面波射频识别系统的数据完整性 | 第11-12页 |
| ·声表面波标签的发展历史及研究现状 | 第12-14页 |
| ·论文研究内容 | 第14-15页 |
| 第二章 声表面波射频标签的调制编码方式 | 第15-27页 |
| ·声表面波标签的不同调制编码方式 | 第15-21页 |
| ·脉冲位置调制编码方式 | 第15-17页 |
| ·脉冲位置结合相位调制方式 | 第17-18页 |
| ·脉冲相延迟时间调制方式 | 第18-21页 |
| ·不同调制方式的编码容量分析 | 第21-26页 |
| ·MPPM 调制方式的编码容量 | 第21页 |
| ·TOPPS 方式的编码容量 | 第21-22页 |
| ·脉冲相延迟时间调制方式的编码容量 | 第22-23页 |
| ·TOPPS 和脉冲相延迟调制法的编码容量比较 | 第23-26页 |
| ·小结 | 第26-27页 |
| 第三章 具有纠错功能的声表面波标签的编码技术 | 第27-48页 |
| ·采用循环冗余校验编码的声表面波标签 | 第27-30页 |
| ·采用REED-SOLOMON 编码的声表面波标签 | 第30-47页 |
| ·RS 码的基本结构和原理 | 第30-33页 |
| ·采用RS 编码的脉冲位置调制方法 | 第33-40页 |
| ·采用RS 编码的脉冲相延迟时间调制方法 | 第40-47页 |
| ·小结 | 第47-48页 |
| 第四章 声表面波射频识别系统的回波群延时估计 | 第48-68页 |
| ·SAW 标签回波信号分析 | 第48-50页 |
| ·频域采样的阅读器系统架构及其回波信号分析 | 第50-53页 |
| ·频域采样回波脉冲的群时延估计 | 第53-61页 |
| ·定义法 | 第53-54页 |
| ·改进的定义法 | 第54-58页 |
| ·互相关函数解析法 | 第58-61页 |
| ·实验及数据分析 | 第61-67页 |
| ·小结 | 第67-68页 |
| 第五章 声表面波射频识别系统参数的测试 | 第68-80页 |
| ·SAW RFID 标签在微波暗室中的性能测试 | 第68-73页 |
| ·RFID 标签测试设备 | 第68-72页 |
| ·测试方法和流程 | 第72-73页 |
| ·SAW RFID 系统最大读取距离测试 | 第73-75页 |
| ·频率特性及回波信号测试 | 第75-78页 |
| ·SAW RFID 标签环境温度差异测试 | 第78-79页 |
| ·测试指标和方法 | 第78-79页 |
| ·测试结果 | 第79页 |
| ·小结 | 第79-80页 |
| 第六章 总结与展望 | 第80-81页 |
| 参考文献 | 第81-84页 |
| 致谢 | 第84-85页 |
| 攻读硕士学位期间已发表或录用的论文 | 第85-87页 |