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VCO-Sigma-Delta A/D转换器关键技术研究

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
符号对照表第11-12页
缩略语对照表第12-15页
第一章 绪论第15-19页
    1.1 研究工作的背景与意义第15-16页
    1.2 VCO-ΣΔADC的研究现状第16-17页
    1.3 论文的结构安排第17-19页
第二章 ΣΔADC的非理想因素分析第19-39页
    2.1 ΣΔADC的工作原理第19-22页
    2.2 DT型ΣΔADC与CT型ΣΔADC的对比第22-36页
        2.2.1 主要噪声源第24-26页
        2.2.2 运算放大器有限的增益与带宽第26-28页
        2.2.3 压摆率第28-29页
        2.2.4 时钟抖动第29-31页
        2.2.5 传输延迟第31-34页
        2.2.6 码间干扰第34-35页
        2.2.7 工艺偏差第35页
        2.2.8 适用性第35-36页
    2.3 DWA与DEM数字校准算法的对比第36-37页
    2.4 本章小结第37-39页
第三章 VCO量化器第39-47页
    3.1 VCO量化器的工作原理第39-41页
    3.2 VCO量化器的非理想因素第41-45页
        3.2.1 VCO量化器的非线性误差第41-44页
        3.2.2 VCO相位噪声第44-45页
    3.3 本章小结第45-47页
第四章 VCO-CT-ΣΔ调制器的系统结构第47-59页
    4.1 调制器的系统结构第47-51页
    4.2 非理想效应的影响第51-58页
        4.2.1 环路延迟第51-52页
        4.2.2 VCO量化器的非线性误差第52-54页
        4.2.3 运算放大器有限的增益与带宽第54-56页
        4.2.4 DAC非线性第56-58页
        4.2.5 工艺偏差第58页
    4.3 本章小结第58-59页
第五章 关键电路的设计与分析第59-75页
    5.1 VCO量化器的设计第59-63页
    5.2 反相器型运算放大器的电路设计第63-66页
    5.3 反馈DAC的设计第66-68页
    5.4 数字校准算法的实现第68-69页
    5.5 电路版图的设计第69-71页
    5.6 结果与对比第71-73页
    5.7 本章小结第73-75页
第六章 总结与展望第75-77页
参考文献第77-81页
致谢第81-83页
作者简介第83-84页

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