光栅成像光谱仪畸变分析与测量
| 中文摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第10-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-14页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第12-13页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第13-14页 |
| 1.3 本文的研究内容 | 第14-16页 |
| 第二章 平面光栅成像光谱仪畸变的形成机理 | 第16-23页 |
| 2.1 平面光栅成像光谱仪畸变的理论推导 | 第16-20页 |
| 2.2 平面光栅成像光谱仪畸变的仿真 | 第20-22页 |
| 2.3 本章小节 | 第22-23页 |
| 第三章 光栅成像光谱仪畸变的仿真与分析 | 第23-40页 |
| 3.1 畸变对采集目标信号影响的评价标准 | 第23页 |
| 3.2 畸变对光栅成像光谱仪采集光谱信号的影响 | 第23-33页 |
| 3.2.1 谱线弯曲引起光谱信号偏差的仿真原理 | 第23-25页 |
| 3.2.2 谱线弯曲引起光谱信号偏差的仿真与分析 | 第25-29页 |
| 3.2.3 色畸变引起光谱信号偏差的仿真原理 | 第29-31页 |
| 3.2.4 色畸变引起光谱信号偏差的仿真与分析 | 第31-33页 |
| 3.3 畸变对光栅成像光谱仪采集图像的影响 | 第33-39页 |
| 3.3.1 谱线弯曲对图像影响的仿真与分析 | 第33-36页 |
| 3.3.2 色畸变对图像影响的仿真与分析 | 第36-39页 |
| 3.4 本章小结 | 第39-40页 |
| 第四章 光栅成像光谱仪畸变的测量 | 第40-53页 |
| 4.1 成像光谱仪畸变的测量原理 | 第40-45页 |
| 4.1.1 谱线灯法 | 第40-41页 |
| 4.1.2 单色仪扫描法 | 第41-43页 |
| 4.1.3 可调谐激光器扫描法 | 第43页 |
| 4.1.4 F-P腔扫描法 | 第43页 |
| 4.1.5 光谱匹配法 | 第43-45页 |
| 4.2 测量系统的设计与仿真 | 第45-49页 |
| 4.3 畸变测量系统的元件选型与测量流程 | 第49-52页 |
| 4.4 本章小结 | 第52-53页 |
| 第五章 测量结果的不确定度评定 | 第53-65页 |
| 5.1 测量不确定度的定义和评定流程 | 第53-54页 |
| 5.2 测量不确定度A类评定与B类评定 | 第54-55页 |
| 5.2.1 测量不确定度A类评定 | 第54页 |
| 5.2.2 测量不确定度B类评定 | 第54-55页 |
| 5.3 畸变的测量与误差分析 | 第55-64页 |
| 5.3.1 建立测量模型和分析测量不确定度来源 | 第55-60页 |
| 5.3.2 测量结果及分析 | 第60-64页 |
| 5.4 本章小结 | 第64-65页 |
| 第六章 总结与展望 | 第65-67页 |
| 6.1 总结 | 第65页 |
| 6.2 展望 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-70页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及科研成果 | 第70-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
