CPCI专用测试系统的研制
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 课题背景及研究的目的和意义 | 第10页 |
| 1.2 仪器总线及其发展概况 | 第10-12页 |
| 1.2.1 测试数据传输技术概述 | 第10-11页 |
| 1.2.2 测试仪器总线技术发展 | 第11-12页 |
| 1.3 CPCI总线的测试模件发展概况 | 第12-13页 |
| 1.3.1 基于CPCI总线的通用测试模块 | 第12-13页 |
| 1.3.2 基于CPCI总线的专用测试模块 | 第13页 |
| 1.4 主要研究内容和论文结构 | 第13-16页 |
| 1.4.1 主要研究内容 | 第13-14页 |
| 1.4.2 论文结构 | 第14-16页 |
| 第2章 系统总体方案设计 | 第16-28页 |
| 2.1 测试特殊性分析 | 第16-19页 |
| 2.1.1 对象特殊性及关键技术 | 第16-17页 |
| 2.1.2 测试需求分析 | 第17-19页 |
| 2.2 测试机制设计 | 第19-20页 |
| 2.2.1 测试系统分解 | 第19页 |
| 2.2.2 组合测试方案 | 第19-20页 |
| 2.3 系统方案设计 | 第20-27页 |
| 2.3.1 原理结构设计 | 第20-21页 |
| 2.3.2 总线方案和信号互连方案 | 第21-22页 |
| 2.3.3 主控模块方案 | 第22-23页 |
| 2.3.4 数据采集方案 | 第23-25页 |
| 2.3.5 信号调理方案 | 第25页 |
| 2.3.6 调理指令编码方案 | 第25-26页 |
| 2.3.7 校准与自检方案 | 第26-27页 |
| 2.4 本章小结 | 第27-28页 |
| 第3章 系统硬件设计 | 第28-45页 |
| 3.1 系统硬件总体设计 | 第28-29页 |
| 3.2 系统控制器和背板设计 | 第29-32页 |
| 3.2.1 零槽计算机 | 第29-30页 |
| 3.2.2 机箱背板设计 | 第30-32页 |
| 3.3 数据采集板卡硬件设计 | 第32-38页 |
| 3.3.1 FPGA硬件电路 | 第33-34页 |
| 3.3.2 PCI接口电路 | 第34-35页 |
| 3.3.3 模数转换电路 | 第35-36页 |
| 3.3.4 数据缓存电路 | 第36-37页 |
| 3.3.5 非易失存储电路 | 第37-38页 |
| 3.4 信号调理板卡硬件设计 | 第38-43页 |
| 3.4.1 直流信号调理板卡 | 第38-40页 |
| 3.4.2 交流信号调理板卡 | 第40-41页 |
| 3.4.3 母线信号调理板卡 | 第41-43页 |
| 3.5 供电设计和功耗分析 | 第43-44页 |
| 3.6 本章小结 | 第44-45页 |
| 第4章 数据采集板卡固件逻辑设计 | 第45-62页 |
| 4.1 顶层逻辑 | 第45-48页 |
| 4.1.1 顶层逻辑功能设计 | 第45-46页 |
| 4.1.2 顶层逻辑结构设计 | 第46-48页 |
| 4.2 PCI本地总线接口逻辑 | 第48-51页 |
| 4.2.1 PCI9054模式和时序 | 第48-49页 |
| 4.2.2 PCI本地总线接口逻辑设计 | 第49-51页 |
| 4.3 调理解析控制逻辑 | 第51-53页 |
| 4.3.1 逻辑结构 | 第52页 |
| 4.3.2 调理编码的指令解析 | 第52-53页 |
| 4.4 测压控制和缓存逻辑 | 第53-57页 |
| 4.4.1 ADC接口逻辑 | 第54-56页 |
| 4.4.2 FIFO接口逻辑 | 第56-57页 |
| 4.5 测频控制逻辑 | 第57-60页 |
| 4.5.1 测频方法论证 | 第57-58页 |
| 4.5.2 等精度测频控制逻辑 | 第58-60页 |
| 4.6 EEPROM接口逻辑 | 第60-61页 |
| 4.7 本章小结 | 第61-62页 |
| 第5章 系统软件设计 | 第62-73页 |
| 5.1 软件开发环境搭建 | 第62-63页 |
| 5.2 VXWORKS驱动程序设计 | 第63-67页 |
| 5.2.1 PCI设备配置空间 | 第63-64页 |
| 5.2.2 PCI9054地址映射的实现 | 第64-66页 |
| 5.2.3 测试设备驱动程序的实现 | 第66-67页 |
| 5.3 接口函数与应用程序设计 | 第67-72页 |
| 5.3.1 接口函数库 | 第67-69页 |
| 5.3.2 应用程序 | 第69-72页 |
| 5.4 本章小结 | 第72-73页 |
| 第6章 系统校准与测试验证 | 第73-83页 |
| 6.1 系统校准设计 | 第73-77页 |
| 6.1.1 校准前测试曲线 | 第73-75页 |
| 6.1.2 校准方法设计 | 第75-77页 |
| 6.1.3 校准后测试曲线 | 第77页 |
| 6.2 系统性能测试 | 第77-82页 |
| 6.2.1 实验室测试环境搭建 | 第77-78页 |
| 6.2.2 系统性能测试 | 第78-82页 |
| 6.3 本章小结 | 第82-83页 |
| 结论 | 第83-84页 |
| 参考文献 | 第84-88页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第88-90页 |
| 致谢 | 第90页 |
