| 摘要 | 第3-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第14-19页 |
| 1.1 课题的来源和意义 | 第14-15页 |
| 1.2 PLC的现状以及发展趋势 | 第15-16页 |
| 1.2.1 PLC的现状 | 第15页 |
| 1.2.2 PLC的发展趋势 | 第15-16页 |
| 1.3 课题的研究内容和难点 | 第16-18页 |
| 1.4 论文的各章节简述 | 第18-19页 |
| 第二章 PLC嵌入式系统介绍 | 第19-25页 |
| 2.1 PLC的介绍 | 第19-23页 |
| 2.1.1 PLC的发展历史和应用场合 | 第20-22页 |
| 2.1.2 PLC嵌入式硬件结构 | 第22-23页 |
| 2.2 PLC嵌入式系统的发展阶段和现状 | 第23-24页 |
| 2.3 本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 ARM内核简介 | 第25-28页 |
| 3.1 ARM简介和架构 | 第25-26页 |
| 3.2 ARM9的内核介绍 | 第26-27页 |
| 3.3 本章小结 | 第27-28页 |
| 第四章 系统硬件平台的设计 | 第28-64页 |
| 4.1 产品设计 | 第28-29页 |
| 4.1.1 市场上相同类型产品参数 | 第28-29页 |
| 4.1.2 产品参数 | 第29页 |
| 4.2 系统的总体硬件框图 | 第29-30页 |
| 4.3 系统硬件设计 | 第30-53页 |
| 4.3.1 MCU设计 | 第30-36页 |
| 4.3.2 MCU供电设计 | 第36-37页 |
| 4.3.3 DDR2电路设计 | 第37-38页 |
| 4.3.4 FLASH电路设计 | 第38-39页 |
| 4.3.5 时钟电路设计 | 第39-41页 |
| 4.3.6 系统复位（RESET）电路设计 | 第41-42页 |
| 4.3.7 调试端口（JTAG）模块 | 第42页 |
| 4.3.8 以太网（ETHERNET）模块 | 第42-44页 |
| 4.3.9 USB模块 | 第44页 |
| 4.3.10 串行通信（UART）模块 | 第44-46页 |
| 4.3.11 485模块 | 第46-47页 |
| 4.3.12 CANopen模块 | 第47页 |
| 4.3.13 SD卡模块 | 第47-48页 |
| 4.3.14 输入模块 | 第48-50页 |
| 4.3.15 输出模块 | 第50-52页 |
| 4.3.16 用户指示灯控制回路 | 第52-53页 |
| 4.4 EMC方案设计 | 第53-54页 |
| 4.5 系统散热设计 | 第54-59页 |
| 4.5.1 热仿真软件ICEPAK | 第54-55页 |
| 4.5.2 热仿真方案比较 | 第55-58页 |
| 4.5.3 热计算 | 第58-59页 |
| 4.6 硬件开发环境 | 第59-63页 |
| 4.6.1 Candence Allegro SPB介绍 | 第59页 |
| 4.6.2 PCB的基本设计流程 | 第59-63页 |
| 4.7 本章小结 | 第63-64页 |
| 第五章 系统软件平台的设计 | 第64-69页 |
| 5.1 双核任务功能分配 | 第64-65页 |
| 5.2 系统上电自检过程 | 第65-67页 |
| 5.3 任务执行优先级处理 | 第67-68页 |
| 5.4 软件开发环境 | 第68页 |
| 5.5 本章小结 | 第68-69页 |
| 第六章 功能测试和EMC测试 | 第69-80页 |
| 6.1 样品电路板的电路设计验证 | 第70-73页 |
| 6.1.1 系统电源上下电 | 第71-72页 |
| 6.1.2 MCU晶振电路的输入 | 第72-73页 |
| 6.2 功能性测试 | 第73-77页 |
| 6.2.1 数字量输入测试 | 第73-74页 |
| 6.2.2 数字量输出测试 | 第74-77页 |
| 6.3 EMC性能测试 | 第77-79页 |
| 6.4 本章小结 | 第79-80页 |
| 第七章 结束语 | 第80-82页 |
| 7.1 全文总结 | 第80-81页 |
| 7.2 后续研究工作 | 第81-82页 |
| 参考文献 | 第82-84页 |
| 致谢 | 第84-85页 |
| 攻读硕士学位期间已发表或录用的论文 | 第85-87页 |