| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-14页 |
| 1.1 课题研究的背景与意义 | 第11页 |
| 1.2 课题的研究现状 | 第11-13页 |
| 1.3 论文的研究内容 | 第13-14页 |
| 第二章 虚拟仪器技术及PXI总线基础 | 第14-22页 |
| 2.1 虚拟仪器技术 | 第14-17页 |
| 2.1.1 虚拟仪器的思想 | 第14页 |
| 2.1.2 虚拟仪器的发展 | 第14-15页 |
| 2.1.3 虚拟仪器的软硬件架构及特点 | 第15-17页 |
| 2.2 LabWindows/CVI与LabVIEW的简介 | 第17-19页 |
| 2.2.1 LabWindows/CVI的简介 | 第17-18页 |
| 2.2.2 LabVIEW简介 | 第18-19页 |
| 2.3 PXI总线技术 | 第19-21页 |
| 2.3.1 PXI总线 | 第19-20页 |
| 2.3.2 PXI仪器 | 第20-21页 |
| 2.4 本章小结 | 第21-22页 |
| 第三章 自检子系统设计需求分析 | 第22-27页 |
| 3.1 总体需求描述 | 第22页 |
| 3.2 系统硬件/软件功能需求 | 第22-26页 |
| 3.2.1 硬件功能需求 | 第22-25页 |
| 3.2.2 软件的功能需求分析 | 第25-26页 |
| 3.3 本章小结 | 第26-27页 |
| 第四章 自检子系统总体设计 | 第27-33页 |
| 4.1 系统设计原则 | 第27页 |
| 4.2 自检方法的研究 | 第27-28页 |
| 4.3 系统硬件总体架构 | 第28-30页 |
| 4.4 系统软件总体框架 | 第30-32页 |
| 4.5 本章小结 | 第32-33页 |
| 第五章 自检子系统硬件设计与实现 | 第33-51页 |
| 5.1 自检子系统硬件组成 | 第33页 |
| 5.2 ITA适配器耦合电路设计 | 第33-38页 |
| 5.2.1 电源模块 | 第33页 |
| 5.2.2 三用表模块 | 第33-34页 |
| 5.2.3 数字I/O模块 | 第34-38页 |
| 5.3 自检适配器ITA设计 | 第38-50页 |
| 5.3.1 三用表 | 第38页 |
| 5.3.2 直流/交流电源 | 第38-40页 |
| 5.3.3 多路复用器 | 第40-43页 |
| 5.3.4 矩阵开关 | 第43-44页 |
| 5.3.5 SPST功率开关 | 第44-45页 |
| 5.3.6 SPDT功率开关 | 第45页 |
| 5.3.7 数字I/O模块 1 | 第45-46页 |
| 5.3.8 数字I/O模块 2 | 第46-48页 |
| 5.3.9 智能数采模块 | 第48-49页 |
| 5.3.10 RS232/RS485通讯板卡，ARINC429通讯板卡/1553仿真板卡 | 第49页 |
| 5.3.11 75DS2与 75C3型DS/SD轴角模块 | 第49-50页 |
| 5.4 本章小结 | 第50-51页 |
| 第六章 自检子系统软件设计与实现 | 第51-65页 |
| 6.1 软件主程序 | 第51-53页 |
| 6.1.1 操作界面 | 第51-52页 |
| 6.1.2 流程图 | 第52-53页 |
| 6.1.3 核心函数与代码 | 第53页 |
| 6.2 硬件资源模块初始化程序 | 第53-56页 |
| 6.2.1 操作界面 | 第53-54页 |
| 6.2.2 流程图 | 第54-55页 |
| 6.2.3 核心函数与代码 | 第55-56页 |
| 6.3 手动测试程序 | 第56-58页 |
| 6.3.1 操作界面 | 第56-57页 |
| 6.3.2 流程图 | 第57-58页 |
| 6.3.3 核心函数与代码 | 第58页 |
| 6.4 自动测试程序 | 第58-64页 |
| 6.4.1 操作界面 | 第58-59页 |
| 6.4.2 流程图 | 第59-63页 |
| 6.4.3 核心函数与代码 | 第63-64页 |
| 6.5 本章小结 | 第64-65页 |
| 第七章 系统测试与结果分析 | 第65-77页 |
| 7.1 测试原则 | 第65页 |
| 7.2 测试环境 | 第65-67页 |
| 7.2.1 适配器安装操作 | 第65-66页 |
| 7.2.2 自检子系统测试软件安装 | 第66-67页 |
| 7.3 系统功能测试 | 第67-73页 |
| 7.3.1 测试程序初始化功能测试 | 第67-69页 |
| 7.3.2 手动测试程序功能测试 | 第69-71页 |
| 7.3.3 自动测试程序功能测试 | 第71-73页 |
| 7.4 系统性能测试及数据说明 | 第73-76页 |
| 7.4.1 自动测试用时情况分析 | 第73页 |
| 7.4.2 自动测试数据情况说明 | 第73-76页 |
| 7.5 本章小结 | 第76-77页 |
| 第八章 总结与展望 | 第77-79页 |
| 致谢 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-82页 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 | 第82-83页 |
| 附录 | 第83-94页 |
