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慢正电子束团湮没寿命测量方法研究

摘要第4-6页
Abstract第6-7页
1 绪论第13-30页
    1.1 正电子介绍第13-18页
        1.1.1 正电子的发现第13-14页
        1.1.2 正电子的物理性质第14-15页
        1.1.3 正电子的湮没特性第15-18页
    1.2 正电子湮没谱学技术第18-24页
        1.2.1 正电子源第19-20页
        1.2.2 正电子湮没寿命谱第20-22页
        1.2.3 正电子湮没多普勒展宽能谱第22-23页
        1.2.4 正电子湮没角关联谱第23-24页
    1.3 慢正电子束流技术第24-28页
        1.3.1 慢正电子湮没寿命谱第26-27页
        1.3.2 基于捕获的慢正电子脉冲束流技术第27-28页
    1.4 论文选题意义及内容安排第28-30页
2 基于固态氖的慢正电子束流系统第30-37页
    2.1 系统概述第30-35页
    2.2 束流状态第35-36页
    2.3 本章小结第36-37页
3 慢正电子束团湮没寿命测量原理第37-44页
    3.1 SSPLAS第38-39页
    3.2 阵列探测器空间测量第39-43页
        3.2.1 设计原理第40-42页
        3.2.2 SiPM探测器第42-43页
    3.3 本章小结第43-44页
4 实验平台的搭建第44-56页
    4.1 样品室的设计第44-47页
    4.2 磁场线圈及探测器摆放第47-49页
    4.3 稳压稳流电源第49页
    4.4 数字示波器第49-55页
        4.4.1 示波器定时原理第52-54页
        4.4.2 示波器时间差测量方法第54-55页
    4.5 本章小结第55-56页
5 慢正电子束团湮没测量第56-78页
    5.1 探测器性能测试第56-67页
        5.1.1 探测器的组成第56-58页
        5.1.2 探测器信号第58-61页
        5.1.3 对511keV伽马射线的探测效率测量第61-67页
            5.1.3.1 空间立体角几何探测效率第61-62页
            5.1.3.2 绝对探测效率第62-65页
            5.1.3.3 本征探测效率第65-67页
    5.2 探测器单元的束团探测效率第67-71页
        5.2.1 束团正电子个数第67-68页
        5.2.2 测量原理第68页
        5.2.3 实验结果第68-71页
    5.3 探测器阵列的束团探测效率第71-74页
        5.3.1 二项分布第71-74页
    5.4 堆积信号对寿命谱及其时间分辨的影响第74-76页
    5.5 寿命谱测量第76-78页
6 结论与展望第78-80页
参考文献第80-82页
个人简历、攻读学位期间发表的学术论文与研究成果第82-83页
致谢第83-84页

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