大视场机载摆扫红外扫描仪几何外检校方法研究
摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
1 绪论 | 第12-17页 |
1.1 研究背景与意义 | 第12-14页 |
1.2 国内外研究现状及趋势 | 第14-15页 |
1.3 本文的研究目标与研究内容 | 第15-16页 |
1.4 主要的组织结构 | 第16-17页 |
2 红外摆扫影像严格几何成像模型 | 第17-36页 |
2.1 红外摆扫相机的成像原理 | 第17-21页 |
2.2 相关成像系统的成像模型 | 第21-28页 |
2.2.1 推扫式光学卫星影像 | 第21-22页 |
2.2.2 ADS40推扫成像模型 | 第22-24页 |
2.2.3 机载LiDAR摆扫模型 | 第24-26页 |
2.2.4 MODIS摆扫模型 | 第26-27页 |
2.2.5 本扫描仪和相关成像系统的关系与差别 | 第27-28页 |
2.3 OPK系统与HPR系统的定义 | 第28-29页 |
2.3.1 OPK系统 | 第28页 |
2.3.2 HPR系统 | 第28页 |
2.3.3 比较OPK系统与HPR系统 | 第28-29页 |
2.4 本扫描仪相关坐标系定义及转换 | 第29-34页 |
2.4.1 影像坐标系(i系) | 第29页 |
2.4.2 相机坐标系(c系) | 第29-30页 |
2.4.3 扫描坐标系(p系) | 第30-31页 |
2.4.4 IMU载机坐标系(ac系) | 第31-32页 |
2.4.5 导航坐标系(g系) | 第32页 |
2.4.6 地心坐标系(E系) | 第32-33页 |
2.4.7 切平面坐标系(m系) | 第33-34页 |
2.5 严格几何成像模型 | 第34-35页 |
2.6 本章小节 | 第35-36页 |
3 大视场红外摆扫扫描仪的几何外检校 | 第36-48页 |
3.1 误差来源与特性分析 | 第36-41页 |
3.1.1 内方位元素对成像定位的影响规律 | 第36-37页 |
3.1.2 安置误差对成像定位的影响规律 | 第37-40页 |
3.1.3 相关性分析 | 第40-41页 |
3.2 几何检校模型 | 第41-46页 |
3.2.1 典型传感器的检校 | 第41-43页 |
3.2.2 大视场红多光谱扫描仪的检校模型 | 第43-46页 |
3.3 外检校策略 | 第46页 |
3.3.1 线元素约束检校策略 | 第46页 |
3.3.2 共线方程权的选择策略 | 第46页 |
3.4 检校解算对检校场要求 | 第46-47页 |
3.5 本章小结 | 第47-48页 |
4 红外摆扫扫描仪影像的精度验证 | 第48-53页 |
4.1 验证模式 | 第48页 |
4.1.1 像方验证 | 第48页 |
4.1.2 物方验证 | 第48页 |
4.2 红外摆扫影像的纠正 | 第48-50页 |
4.2.1 纠正原理 | 第48-49页 |
4.2.2 算法介绍 | 第49-50页 |
4.3 精度评定方法 | 第50-52页 |
4.3.1 精度评价 | 第50-51页 |
4.3.2 精度评定的影响因素 | 第51-52页 |
4.3.3 精度检验方法 | 第52页 |
4.4 本章小节 | 第52-53页 |
5 实验与结论 | 第53-73页 |
5.1 实验数据介绍 | 第53-54页 |
5.1.1 机载数据介绍 | 第53页 |
5.1.2 摆扫相机影像数据 | 第53页 |
5.1.3 DEM和控制点信息 | 第53页 |
5.1.4 DOM信息 | 第53-54页 |
5.2 实验方法及过程 | 第54-59页 |
5.2.1 数据预处理 | 第54-55页 |
5.2.2 扫描影像连接点的提取 | 第55-58页 |
5.2.3 连接点物方坐标初值 | 第58页 |
5.2.4 光束法平差(BA) | 第58-59页 |
5.3 实验结论与误差分析 | 第59-72页 |
5.3.1 绝对几何精度 | 第64-66页 |
5.3.2 相对几何拼接精度 | 第66-72页 |
5.4 本章小结 | 第72-73页 |
6 总结与展望 | 第73-75页 |
6.1 本文总结 | 第73页 |
6.2 进一步研究内容 | 第73-75页 |
参考文献 | 第75-78页 |
致谢 | 第78-79页 |