非均匀采样系统的自校正控制
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 1 绪论 | 第8-13页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第8-9页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第9-10页 |
| 1.3 主要工作内容 | 第10-13页 |
| 2 非均匀采样系统介绍及数学模型的建立 | 第13-20页 |
| 2.1 非均匀采样系统简介 | 第13-14页 |
| 2.2 非均匀采样系统建模方案 | 第14-20页 |
| 2.2.1 周期非均匀刷新-周期非均匀采样方案 | 第16-18页 |
| 2.2.2 周期非均匀刷新-周期均匀采样方案 | 第18-20页 |
| 3 系统参数辨识 | 第20-27页 |
| 3.1 非均匀采样系统模型 | 第20-21页 |
| 3.1.1 周期非均匀刷新-周期非均匀采样方案 | 第20页 |
| 3.1.2 周期非均匀刷新-周期均匀采样方案 | 第20-21页 |
| 3.2 非均匀采样系统参数辨识 | 第21-23页 |
| 3.2.1 递推最小二乘法 | 第21-22页 |
| 3.2.2 周期非均匀刷新-周期非均匀采样方案 | 第22页 |
| 3.2.3 周期非均匀刷新-周期均匀采样方案 | 第22-23页 |
| 3.3 收敛性分析 | 第23-27页 |
| 3.3.1 周期非均匀刷新-周期非均匀采样方案 | 第23页 |
| 3.3.2 周期非均匀刷新-周期均匀采样方案 | 第23-27页 |
| 4 最小相位非均匀采样系统的自校正控制 | 第27-36页 |
| 4.1 周期非均匀刷新-周期非均匀采样方案 | 第27-31页 |
| 4.1.1 自校正控制 | 第27-29页 |
| 4.1.2 算例仿真 | 第29-31页 |
| 4.2 周期非均匀刷新-周期均匀采样方案 | 第31-36页 |
| 4.2.1 自校正控制 | 第31-34页 |
| 4.2.2 算例仿真 | 第34-36页 |
| 5 非最小相位非均匀采样系统的自校正控制 | 第36-51页 |
| 5.1 广义最小方差自校正控制 | 第36-37页 |
| 5.2 周期非均匀刷新-周期非均匀采样方案 | 第37-43页 |
| 5.2.1 自校正控制 | 第37-42页 |
| 5.2.2 算例仿真 | 第42-43页 |
| 5.3 周期非均匀刷新-周期均匀采样方案 | 第43-51页 |
| 5.3.1 自校正控制 | 第43-49页 |
| 5.3.2 算例仿真 | 第49-51页 |
| 6 实例仿真 | 第51-63页 |
| 6.1 周期非均匀刷新-周期非均匀采样方案 | 第51-58页 |
| 6.1.1 x轴控制器设计 | 第51-56页 |
| 6.1.2 y轴控制器设计 | 第56-58页 |
| 6.2 周期非均匀刷新-周期均匀采样方案 | 第58-63页 |
| 6.2.1 x轴控制器设计 | 第58-60页 |
| 6.2.2 y轴控制器设计 | 第60-63页 |
| 结论 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
