摘要 | 第5-7页 |
abstract | 第7-8页 |
第一章 绪论 | 第12-19页 |
1.1 研究工作的背景与意义 | 第12页 |
1.2 宇航环境 | 第12-13页 |
1.3 宇航环境对集成电路的影响 | 第13-16页 |
1.3.1 总剂量效应 | 第13-16页 |
1.3.2 单粒子效应 | 第16页 |
1.4 集成电路抗辐射技术的国内外研究历史与现状 | 第16-17页 |
1.5 本文的主要贡献与创新 | 第17页 |
1.6 本论文的结构安排 | 第17-19页 |
第二章 宇航用抗辐射半导体器件的研究与设计 | 第19-41页 |
2.1 宇航环境对半导体器件的影响 | 第19-24页 |
2.1.1 总剂量效应对双极晶体管电参数的影响 | 第19-20页 |
2.1.2 总剂量效应对MOS场效应晶体管电参数的影响 | 第20-22页 |
2.1.3 单粒子效应对MOS场效应晶体管的影响 | 第22-24页 |
2.2 双极器件的抗辐射研究与设计 | 第24-31页 |
2.2.1 双极工艺简介 | 第24-25页 |
2.2.2 双极工艺抗辐射研究与设计 | 第25-31页 |
2.3 CMOS工艺器件抗辐射研究与设计 | 第31-40页 |
2.3.1 CMOS工艺简介 | 第32-33页 |
2.3.2 CMOS工艺的抗总剂量研究与设计 | 第33页 |
2.3.3 低压CMOS器件试验结果分析 | 第33-36页 |
2.3.4 高压CMOS器件试验结果分析 | 第36-40页 |
2.3.5 CMOS工艺的抗单粒子闭锁(SEL)研究与设计 | 第40页 |
2.4 本章小结 | 第40-41页 |
第三章 宇航用抗辐射CMOS关键模拟单元电路的研究与设计 | 第41-56页 |
3.1 抗辐射带隙基准单元电路的研究与设计 | 第41-47页 |
3.1.1 带隙基准背景及工作原理 | 第41-43页 |
3.1.2 常态带隙基准单元电路 | 第43-45页 |
3.1.3 抗辐射带隙基准单元电路 | 第45-47页 |
3.2 抗辐射电平转换单元电路的研究与设计 | 第47-51页 |
3.2.1 常态电平转换单元电路 | 第47-49页 |
3.2.2 抗辐射电平转换单元电路 | 第49-51页 |
3.3 抗辐射振荡器单元电路的研究与设计 | 第51-55页 |
3.3.1 常态振荡器单元电路 | 第51-53页 |
3.3.2 抗辐射振荡器单元电路 | 第53-55页 |
3.4 本章小结 | 第55-56页 |
第四章 宇航用抗辐射双极关键模拟单元电路的研究与设计 | 第56-74页 |
4.1 抗辐射基准单元电路的研究与设计 | 第56-61页 |
4.1.1 常态带隙基准单元电路 | 第56页 |
4.1.2 抗辐射带隙基准单元电路 | 第56-61页 |
4.2 抗辐射运放单元电路的研究与设计 | 第61-69页 |
4.2.1 常态运放单元电路 | 第61-63页 |
4.2.2 抗辐射运放单元电路 | 第63-69页 |
4.3 抗辐射比较器单元电路的研究与设计 | 第69-73页 |
4.3.1 常态比较器单元电路 | 第69-72页 |
4.3.2 抗辐射比较器单元电路 | 第72-73页 |
4.4 本章小结 | 第73-74页 |
第五章 宇航用抗辐射Buck型DC-DC的研究与设计 | 第74-98页 |
5.1 研究背景 | 第74页 |
5.2 宇航用抗辐射DC-DC系统设计 | 第74-80页 |
5.2.1 Buck型DC-DC拓扑 | 第74-76页 |
5.2.2 控制模式 | 第76-77页 |
5.2.3 调制方式 | 第77页 |
5.2.4 系统具体实现方案 | 第77-80页 |
5.3 抗辐射关键单元电路设计 | 第80-89页 |
5.3.1 抗辐射峰值电流采样放大器 | 第80-82页 |
5.3.2 抗辐射LDO | 第82-84页 |
5.3.3 抗辐射斜坡补偿电路 | 第84-86页 |
5.3.4 抗辐射误差放大器 | 第86-88页 |
5.3.5 抗辐射电流限制比较器 | 第88-89页 |
5.4 总体仿真与测试验证 | 第89-96页 |
5.4.1 DC-DC仿真结果 | 第89-93页 |
5.4.2 版图设计 | 第93-95页 |
5.4.3 测试与辐射实验结果 | 第95-96页 |
5.5 本章小结 | 第96-98页 |
第六章 宇航用抗辐射开关电源控制器的研究与设计 | 第98-115页 |
6.1 研究背景 | 第98页 |
6.2 宇航用抗辐射开关电源控制器系统设计 | 第98-104页 |
6.2.1 开关电源控制器系统设计 | 第98-100页 |
6.2.2 开关电源控制器系统抗辐射设计 | 第100-104页 |
6.3 抗辐射关键单元电路设计 | 第104-110页 |
6.3.1 抗辐射带隙基准源设计 | 第104页 |
6.3.2 抗辐射振荡器设计; | 第104-108页 |
6.3.3 抗辐射欠压锁定电路设计 | 第108-110页 |
6.4 总体仿真与测试验证 | 第110-114页 |
6.4.1 开关电源控制器仿真结果 | 第110-111页 |
6.4.2 版图设计 | 第111-112页 |
6.4.3 测试与辐射实验结果 | 第112-114页 |
6.5 本章小结 | 第114-115页 |
第七章 全文总结与展望 | 第115-117页 |
7.1 全文总结 | 第115页 |
7.2 后续工作展望 | 第115-117页 |
致谢 | 第117-118页 |
参考文献 | 第118-124页 |
攻读博士学位期间取得的成果 | 第124-125页 |