近红外辐射测温关键技术研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第10-14页 |
| 1.1 近红外辐射测温的应用背景 | 第10-11页 |
| 1.2 近红外辐射测温国内外发展现状 | 第11-13页 |
| 1.3 近红外辐射测温仍然存在的问题 | 第13页 |
| 1.4 论文结构安排 | 第13-14页 |
| 第2章 近红外辐射测温系统介绍 | 第14-22页 |
| 2.1 近红外测温系统的概述 | 第14-15页 |
| 2.2 辐射测温基本原理 | 第15-17页 |
| 2.2.1 黑体辐射定律 | 第15-17页 |
| 2.2.2 非黑体辐射情况 | 第17页 |
| 2.3 光学系统 | 第17-18页 |
| 2.4 前置放大器部分的介绍 | 第18页 |
| 2.5 恒温部分介绍 | 第18-19页 |
| 2.6 信号调理与控制电路介绍 | 第19-20页 |
| 2.7 本章小结 | 第20-22页 |
| 第3章 近红外测温系统前置放大器设计 | 第22-40页 |
| 3.1 前置放大器的设计 | 第22-26页 |
| 3.1.1 光电等效电路与放大器 | 第22-24页 |
| 3.1.2 跨阻放大器应用的必要性 | 第24-26页 |
| 3.2 带宽与相位补偿 | 第26-33页 |
| 3.2.1 跨阻放大器带宽 | 第26-31页 |
| 3.2.2 基本的相位补偿 | 第31-33页 |
| 3.3 系统去噪声处理 | 第33-35页 |
| 3.4 系统参数计算 | 第35-37页 |
| 3.5 跨阻放大器仿真 | 第37-39页 |
| 3.6 本章小结 | 第39-40页 |
| 第4章 近红外测温光电恒温系统设计 | 第40-56页 |
| 4.1 热电制冷器工作原理 | 第40-41页 |
| 4.2 控制芯片介绍与工作原理 | 第41-42页 |
| 4.3 芯片外围电路设计 | 第42-48页 |
| 4.3.1 温度设定 | 第42-44页 |
| 4.3.2 开关频率的设定 | 第44-45页 |
| 4.3.3 PID补偿网络 | 第45-46页 |
| 4.3.4 功率驱动部分 | 第46-48页 |
| 4.3.5 PCB部分的设计 | 第48页 |
| 4.4 系统PID仿真 | 第48-55页 |
| 4.4.1 TEC/NTC模型建立 | 第48-49页 |
| 4.4.2 PID参数整定 | 第49-55页 |
| 4.5 本章小结 | 第55-56页 |
| 第5章 信号调理与控制电路设计 | 第56-66页 |
| 5.1 信号调理部分介绍 | 第56-59页 |
| 5.1.1 滤波器的类型 | 第56-57页 |
| 5.1.2 滤波器的比较与阶数的设定 | 第57-59页 |
| 5.2 低通滤波器带宽 | 第59-61页 |
| 5.2.1 滤波器系统带宽的计算与设计 | 第59-60页 |
| 5.2.2 滤波系统的仿真 | 第60-61页 |
| 5.3 控制系统设计 | 第61-63页 |
| 5.3.1 光学滤波器的切换 | 第61-62页 |
| 5.3.2 前置放大器增益的切换 | 第62-63页 |
| 5.3.3 实现上位机通信 | 第63页 |
| 5.4 电平调整与输出缓冲电路 | 第63-64页 |
| 5.5 本章小结 | 第64-66页 |
| 第6章 系统性能与测试 | 第66-76页 |
| 6.1 跨阻放大器测试 | 第66-68页 |
| 6.2 恒温电路测试 | 第68-70页 |
| 6.3 巴特沃斯滤波器测试 | 第70-72页 |
| 6.4 整体系统测试 | 第72-74页 |
| 6.5 系统分辨率测试 | 第74页 |
| 6.6 本章小结 | 第74-76页 |
| 结论 | 第76-78页 |
| 参考文献 | 第78-82页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第82-84页 |
| 致谢 | 第84-86页 |
| 附录 | 第86-88页 |
