数控装置的可靠性评估
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第10-19页 |
| 1.1 课题来源 | 第10页 |
| 1.2 课题研究的目的与意义 | 第10-11页 |
| 1.2.1 课题研究的目的 | 第10页 |
| 1.2.2 课题研究的意义 | 第10-11页 |
| 1.3 国内外数控装置可靠性技术的研究现状 | 第11-16页 |
| 1.3.1 国外研究现状 | 第11-13页 |
| 1.3.2 国内研究现状 | 第13-15页 |
| 1.3.3 数控装置可靠性评估面临的问题 | 第15-16页 |
| 1.4 数控装置可靠性的发展前景 | 第16-17页 |
| 1.5 论文的主要内容及内容 | 第17-19页 |
| 第2章 数控装置的可靠性预计和分配 | 第19-29页 |
| 2.1 概述 | 第19页 |
| 2.2 数控装置可靠性模型的建立 | 第19-21页 |
| 2.2.1 数控装置可靠性逻辑框图的构建 | 第19-20页 |
| 2.2.2 串联系统可靠度的计算 | 第20-21页 |
| 2.3 可靠性的分配 | 第21-23页 |
| 2.3.1 加权因子分配法 | 第21-22页 |
| 2.3.2 数控装置可靠性指标的分配 | 第22-23页 |
| 2.4 可靠性预计 | 第23-27页 |
| 2.4.1 基于数理统计的预计法 | 第23-24页 |
| 2.4.2 元器件计数法 | 第24页 |
| 2.4.3 元器件的失效模型和失效率来源 | 第24-25页 |
| 2.4.4 预计数控装置的可靠性 | 第25-27页 |
| 2.5 本章小结 | 第27-29页 |
| 第3章 数控装置的故障模式影响分析 | 第29-35页 |
| 3.1 概述 | 第29页 |
| 3.2 数控装置故障模式的分析 | 第29-30页 |
| 3.3 数控装置故障模式分类和原因的分析 | 第30-32页 |
| 3.4 数控装置故障模式危害度的分析 | 第32-34页 |
| 3.5 本章小结 | 第34-35页 |
| 第4章 数控装置的寿命分布模型 | 第35-50页 |
| 4.1 概述 | 第35页 |
| 4.2 数控装置的可靠性寿命数据抽取 | 第35-36页 |
| 4.3 首次故障时间分布类型的初 | 第36-49页 |
| 4.3.1 绘制频率直方图 | 第38-39页 |
| 4.3.2 分布类型的初选 | 第39-40页 |
| 4.3.3 经验分布函数的确定 | 第40-42页 |
| 4.3.4 分布类型的图检验和极大似然估计 | 第42-46页 |
| 4.3.5 分布函数的假设检验 | 第46-48页 |
| 4.3.6 数控装置的可靠性指标定量分析 | 第48-49页 |
| 4.4 本章小结 | 第49-50页 |
| 第5章 数控装置的可靠性评估 | 第50-64页 |
| 5.1 概述 | 第50-52页 |
| 5.2 Bayes评估方法的基本思想 | 第52-55页 |
| 5.3 Bayes评估方法关键技术及应用 | 第55-60页 |
| 5.3.1 验前信息的获取与检验 | 第55-59页 |
| 5.3.2 Bayes验前分布的确定方法 | 第59页 |
| 5.3.3 Bayes验后分布的计算 | 第59-60页 |
| 5.4 数控装置的Bayes分析 | 第60-63页 |
| 5.4.1 验前信息的分析与检验 | 第60-62页 |
| 5.4.2 先验信息分析及参数确定 | 第62-63页 |
| 5.4.3 验后信息分析 | 第63页 |
| 5.5 本章小结 | 第63-64页 |
| 第6章 结论 | 第64-65页 |
| 6.1 概述 | 第64页 |
| 6.2 展望 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-69页 |
| 致谢 | 第69页 |
