| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| ·课题研究背景 | 第10-11页 |
| ·国内外研究现状 | 第11-12页 |
| ·课题来源及研究内容 | 第12-14页 |
| 第二章 GaAs PHEMT 器件寿命实验 | 第14-25页 |
| ·GaAs PHEMT 器件结构 | 第14-15页 |
| ·GaAs PHEMT 器件寿命实验理论 | 第15-18页 |
| ·寿命实验概述 | 第15页 |
| ·GaAs PHEMT 寿命实验方法 | 第15-18页 |
| ·GaAs PHEMT 器件寿命实验方案 | 第18-24页 |
| ·实验样品 | 第18-21页 |
| ·实验系统 | 第21-22页 |
| ·实验条件 | 第22-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 GaAs PHEMT 器件结温测试 | 第25-34页 |
| ·热阻 | 第25-26页 |
| ·热阻与结温 | 第25-26页 |
| ·热阻测试 | 第26页 |
| ·单机理金属化结构结温测试 | 第26-29页 |
| ·GaAs PHEMT 单管结温测试 | 第29-33页 |
| ·本章小结 | 第33-34页 |
| 第四章 GaAs PHEMT 器件失效机理分析 | 第34-52页 |
| ·GaAs PHEMT 器件的主要失效模式和失效机理 | 第34-38页 |
| ·GaAs PHEMT 器件的主要失效模式 | 第34-35页 |
| ·GaAs PHEMT 器件的常见失效机理 | 第35-38页 |
| ·GaAs PHEMT 单机理金属化结构失效机理分析 | 第38-41页 |
| ·GaAs PHEMT 单管失效机理分析 | 第41-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第五章 GaAs PHEMT 器件寿命评估 | 第52-62页 |
| ·GaAs PHEMT 寿命评估理论 | 第52-54页 |
| ·寿命实验的常用的寿命分布 | 第52-53页 |
| ·寿命实验的数据处理模型 | 第53-54页 |
| ·GaAs PHEMT 器件寿命评估 | 第54-61页 |
| ·GaAs PHEMT 单机理结构寿命评估 | 第56-60页 |
| ·GaAs PHEMT 单管寿命评估 | 第60-61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 结论与展望 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 附件 | 第69页 |