| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-23页 |
| 1.1 LED的发光原理 | 第10页 |
| 1.2 LED芯片的结构 | 第10-11页 |
| 1.3 LED可靠性研究 | 第11-21页 |
| 1.3.1 LED失效的模式和机制 | 第11-14页 |
| 1.3.2 LED失效分析的方法 | 第14-15页 |
| 1.3.3 LED的可靠性预测 | 第15-21页 |
| 1.4 本文研究内容 | 第21-23页 |
| 第二章 GaN基白光LED电极失效机制研究 | 第23-33页 |
| 2.1 引言 | 第23页 |
| 2.2 实验 | 第23-25页 |
| 2.2.1 实验样品 | 第23-24页 |
| 2.2.2 实验仪器 | 第24-25页 |
| 2.2.3 实验方案 | 第25页 |
| 2.3 实验结果与分析 | 第25-32页 |
| 2.3.1 电参数测试 | 第25页 |
| 2.3.2 芯片表面形貌观察 | 第25-27页 |
| 2.3.3 电极失效机制分析 | 第27-32页 |
| 2.4 本章小结 | 第32-33页 |
| 第三章 GaN基通孔垂直结构LED失效分析 | 第33-44页 |
| 3.1 引言 | 第33页 |
| 3.2 实验 | 第33-34页 |
| 3.2.1 实验样品 | 第33-34页 |
| 3.2.2 实验 | 第34页 |
| 3.3 结果与分析 | 第34-43页 |
| 3.3.1 短路测试 | 第35页 |
| 3.3.2 抗静电测试 | 第35-36页 |
| 3.3.3 微观形貌观察与失效机制分析 | 第36-43页 |
| 3.4 本章小结 | 第43-44页 |
| 第四章 GaN基LED可靠性预测 | 第44-59页 |
| 4.1 引言 | 第44页 |
| 4.2 理论分析 | 第44-47页 |
| 4.2.1 Kolmogorov-Smirnov检验 | 第44-46页 |
| 4.2.2 退化模型 | 第46页 |
| 4.2.3 LED伪失效寿命估算 | 第46-47页 |
| 4.3 实验 | 第47-48页 |
| 4.3.1 实验样品及步骤 | 第47-48页 |
| 4.4 结果与讨论 | 第48-57页 |
| 4.4.1 计算流明维持率 | 第48-50页 |
| 4.4.2 退化模型确定 | 第50-53页 |
| 4.4.3 伪失效寿命计算 | 第53-54页 |
| 4.4.4 确定伪失效寿命分布 | 第54-55页 |
| 4.4.5 分布参数估计 | 第55-57页 |
| 4.5 本章小结 | 第57-59页 |
| 结论 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-65页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 附件 | 第67页 |