热电偶高精度检测电路与信号处理方法研究
| 致谢 | 第1-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7-14页 |
| 1 绪论 | 第14-20页 |
| ·论文的研究背景及意义 | 第14-16页 |
| ·国内外研究现状 | 第16-19页 |
| ·温度测量方法简介 | 第16-17页 |
| ·接触式测温方法 | 第17-18页 |
| ·热电偶测温现状 | 第18-19页 |
| ·主要研究内容和创新点 | 第19页 |
| ·本章小结 | 第19-20页 |
| 2 系统设计及重要器件选型 | 第20-27页 |
| ·系统总体设计 | 第20页 |
| ·热电偶选型 | 第20-23页 |
| ·标准化热电偶类型比较及选择 | 第20-21页 |
| ·热电偶性能评估 | 第21-23页 |
| ·冷端补偿方案设计 | 第23-25页 |
| ·冷端补偿原理及分析 | 第23-24页 |
| ·铂电阻选型 | 第24-25页 |
| ·A/D规格参数分析 | 第25-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 3 硬件电路设计 | 第27-37页 |
| ·电源部分设计 | 第27-29页 |
| ·供电电源部分设计 | 第27-28页 |
| ·偏置电压和基准电压部分设计 | 第28-29页 |
| ·信号调理电路设计 | 第29-32页 |
| ·热电偶信号采样部分设计 | 第29-30页 |
| ·热电偶冷端补偿部分设计 | 第30-32页 |
| ·温漂对系统测温的影响分析 | 第32-35页 |
| ·温漂对冷端补偿部分测量的影响 | 第33-34页 |
| ·温漂对热电偶信号测量的影响 | 第34-35页 |
| ·ATmega128单片机电路设计 | 第35-36页 |
| ·PCB设计 | 第36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 4 温度测量算法及程序设计 | 第37-48页 |
| ·信号预处理 | 第37-38页 |
| ·铂电阻电阻值转换为温度的算法设计 | 第38-40页 |
| ·插值法 | 第38-39页 |
| ·反函数法 | 第39-40页 |
| ·基于二分法的热电偶电动势转换温度算法设计 | 第40-46页 |
| ·传统的电动势转换温度算法 | 第40-41页 |
| ·算法思路及实现 | 第41-44页 |
| ·算法测试数据 | 第44-46页 |
| ·系统下位机程序设计 | 第46-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 5 系统测试结果分析 | 第48-59页 |
| ·热电偶自动标定系统设计 | 第48-51页 |
| ·设计目的 | 第48页 |
| ·标定系统总体结构 | 第48-49页 |
| ·温度标定软件设计 | 第49-51页 |
| ·电学参数测试 | 第51-53页 |
| ·电阻阻值测试 | 第52-53页 |
| ·电压值测试 | 第53页 |
| ·温度测试 | 第53-56页 |
| ·冷端铂电阻温度测试 | 第53-54页 |
| ·热电偶温度测试 | 第54-56页 |
| ·误差分析 | 第56-57页 |
| ·冷端补偿部分信号采样误差 | 第56页 |
| ·热电偶信号采样误差 | 第56-57页 |
| ·算法转换的误差 | 第57页 |
| ·传感器引入的误差 | 第57页 |
| ·本章小结 | 第57-59页 |
| 6 总结和展望 | 第59-61页 |
| ·总结 | 第59页 |
| ·存在的不足及后期展望 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-63页 |
| 附录A | 第63-64页 |
| 附录B | 第64-65页 |
| 作者简历 | 第65页 |
