基于LEON2的高可靠高性能处理器的研究与实现
摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-11页 |
第一章 绪论 | 第11-17页 |
·课题研究背景 | 第11-12页 |
·课题研究现状 | 第12-15页 |
·国外研究现状 | 第12-14页 |
·国内研究现状 | 第14-15页 |
·课题研究内容 | 第15-16页 |
·论文结构 | 第16-17页 |
第二章 单粒子效应及LEON2微处理器 | 第17-26页 |
·单粒子效应 | 第17-18页 |
·单粒子闩锁效应 | 第17页 |
·单粒子翻转效应 | 第17-18页 |
·LEON2微处理器 | 第18-25页 |
·LEON2微处理器结构 | 第18-21页 |
·LEON整数单元 | 第19-20页 |
·LEON浮点单元与协处理器 | 第20页 |
·硬件乘法器 | 第20页 |
·Cache子系统 | 第20-21页 |
·调试支持单元DSU | 第21页 |
·AMBA总线 | 第21-25页 |
·AMBA AHB总线 | 第22-24页 |
·APB总线 | 第24-25页 |
·本章小结 | 第25-26页 |
第三章 抗辐照加固技术 | 第26-39页 |
·三模冗余技术 | 第26-31页 |
·三模冗余原理 | 第26-27页 |
·三模冗余开销 | 第27页 |
·设计中的问题及解决方法 | 第27-30页 |
·不定态 | 第28-29页 |
·状态出错 | 第29-30页 |
·三模冗余技术的实现方法 | 第30-31页 |
·修改网表二次综合 | 第30-31页 |
·建立三模冗余触发器的库单元 | 第31页 |
·基于汉明码的EDAC技术 | 第31-34页 |
·EDAC技术介绍 | 第31-32页 |
·汉明码 | 第32-33页 |
·汉明码验证 | 第33-34页 |
·SOI技术 | 第34-38页 |
·SOI技术介绍 | 第34-35页 |
·SOI技术的特点 | 第35-36页 |
·SOI技术的抗辐照特性 | 第36页 |
·单粒子翻转效应 | 第36页 |
·单粒子闩锁效应 | 第36页 |
·SOI技术的运用 | 第36-38页 |
·本章小结 | 第38-39页 |
第四章 LEON2功能验证 | 第39-44页 |
·Leon2功能验证平台 | 第39-40页 |
·Leon2功能验证 | 第40-43页 |
·LEON2整体验证 | 第40-41页 |
·LEON2外围设备及接口验证 | 第41-43页 |
·Timer验证 | 第41-42页 |
·中断控制器验证 | 第42页 |
·UART验证 | 第42-43页 |
·本章小结 | 第43-44页 |
第五章 FPGA原型验证 | 第44-62页 |
·FPGA开发流程简介 | 第44-45页 |
·FPGA原型验证环境 | 第45-46页 |
·硬件环境 | 第45页 |
·软件环境 | 第45-46页 |
·LEON2验证 | 第46-61页 |
·Timer验证 | 第46-50页 |
·Timer unit工作原理 | 第47页 |
·Timer unit寄存器结构 | 第47-48页 |
·Timer unit验证内容 | 第48-50页 |
·IRQ验证 | 第50-54页 |
·IRQ工作原理 | 第50-51页 |
·中断号分配 | 第51页 |
·IRQ寄存器 | 第51-52页 |
·IRQ验证内容 | 第52-54页 |
·I/O端口验证 | 第54-56页 |
·I/O port工作原理 | 第54-55页 |
·I/O端口寄存器 | 第55页 |
·I/O port的读写验证 | 第55-56页 |
·SDRAM空间读写操作 | 第56-58页 |
·FPU浮点运算单元测试 | 第58页 |
·UART验证 | 第58-60页 |
·UART发送 | 第58-59页 |
·UART接收 | 第59-60页 |
·LEON2系统信息 | 第60-61页 |
·本章小结 | 第61-62页 |
第六章 综合与静态时序分析 | 第62-68页 |
·DC综合 | 第62-64页 |
·启动文件 | 第62-63页 |
·设计读入与链接 | 第63页 |
·设计环境 | 第63页 |
·设计约束 | 第63-64页 |
·LEON2综合 | 第64页 |
·静态时序分析 | 第64-67页 |
·时序例外 | 第64-65页 |
·静态时序分析 | 第65-67页 |
·建立时间分析 | 第65-66页 |
·保持时间分析 | 第66-67页 |
·本章小结 | 第67-68页 |
第七章 总结 | 第68-69页 |
致谢 | 第69-70页 |
参考文献 | 第70-72页 |
攻硕期间取得的研究成果 | 第72页 |