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基于LEON2的高可靠高性能处理器的研究与实现

摘要第1-5页
ABSTRACT第5-11页
第一章 绪论第11-17页
   ·课题研究背景第11-12页
   ·课题研究现状第12-15页
     ·国外研究现状第12-14页
     ·国内研究现状第14-15页
   ·课题研究内容第15-16页
   ·论文结构第16-17页
第二章 单粒子效应及LEON2微处理器第17-26页
   ·单粒子效应第17-18页
     ·单粒子闩锁效应第17页
     ·单粒子翻转效应第17-18页
   ·LEON2微处理器第18-25页
     ·LEON2微处理器结构第18-21页
       ·LEON整数单元第19-20页
       ·LEON浮点单元与协处理器第20页
       ·硬件乘法器第20页
       ·Cache子系统第20-21页
       ·调试支持单元DSU第21页
     ·AMBA总线第21-25页
       ·AMBA AHB总线第22-24页
       ·APB总线第24-25页
   ·本章小结第25-26页
第三章 抗辐照加固技术第26-39页
   ·三模冗余技术第26-31页
     ·三模冗余原理第26-27页
     ·三模冗余开销第27页
     ·设计中的问题及解决方法第27-30页
       ·不定态第28-29页
       ·状态出错第29-30页
     ·三模冗余技术的实现方法第30-31页
       ·修改网表二次综合第30-31页
       ·建立三模冗余触发器的库单元第31页
   ·基于汉明码的EDAC技术第31-34页
     ·EDAC技术介绍第31-32页
     ·汉明码第32-33页
     ·汉明码验证第33-34页
   ·SOI技术第34-38页
     ·SOI技术介绍第34-35页
     ·SOI技术的特点第35-36页
     ·SOI技术的抗辐照特性第36页
       ·单粒子翻转效应第36页
       ·单粒子闩锁效应第36页
     ·SOI技术的运用第36-38页
   ·本章小结第38-39页
第四章 LEON2功能验证第39-44页
   ·Leon2功能验证平台第39-40页
   ·Leon2功能验证第40-43页
     ·LEON2整体验证第40-41页
     ·LEON2外围设备及接口验证第41-43页
       ·Timer验证第41-42页
       ·中断控制器验证第42页
       ·UART验证第42-43页
   ·本章小结第43-44页
第五章 FPGA原型验证第44-62页
   ·FPGA开发流程简介第44-45页
   ·FPGA原型验证环境第45-46页
     ·硬件环境第45页
     ·软件环境第45-46页
   ·LEON2验证第46-61页
     ·Timer验证第46-50页
       ·Timer unit工作原理第47页
       ·Timer unit寄存器结构第47-48页
       ·Timer unit验证内容第48-50页
     ·IRQ验证第50-54页
       ·IRQ工作原理第50-51页
       ·中断号分配第51页
       ·IRQ寄存器第51-52页
       ·IRQ验证内容第52-54页
     ·I/O端口验证第54-56页
       ·I/O port工作原理第54-55页
       ·I/O端口寄存器第55页
       ·I/O port的读写验证第55-56页
     ·SDRAM空间读写操作第56-58页
     ·FPU浮点运算单元测试第58页
     ·UART验证第58-60页
       ·UART发送第58-59页
       ·UART接收第59-60页
     ·LEON2系统信息第60-61页
   ·本章小结第61-62页
第六章 综合与静态时序分析第62-68页
   ·DC综合第62-64页
     ·启动文件第62-63页
     ·设计读入与链接第63页
     ·设计环境第63页
     ·设计约束第63-64页
     ·LEON2综合第64页
   ·静态时序分析第64-67页
     ·时序例外第64-65页
     ·静态时序分析第65-67页
       ·建立时间分析第65-66页
       ·保持时间分析第66-67页
   ·本章小结第67-68页
第七章 总结第68-69页
致谢第69-70页
参考文献第70-72页
攻硕期间取得的研究成果第72页

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