摘要 | 第1-4页 |
ABSTRACT | 第4-7页 |
第一章 绪论 | 第7-14页 |
·课题的来源及意义 | 第7-9页 |
·课题的来源 | 第7-8页 |
·课题研究的意义 | 第8-9页 |
·国外、国内研究现状 | 第9-11页 |
·国外研究现状 | 第9-10页 |
·国内研究现状 | 第10-11页 |
·测试质量改进项目的研究内容 | 第11-12页 |
·研究思路框架 | 第12-14页 |
第二章 ODM 项目测试质量管理的相关理论 | 第14-20页 |
·ODM 概述 | 第14-15页 |
·ODM 外包动机理论 | 第15-16页 |
·项目质量管理基本理论 | 第16-18页 |
·系统工程理论 | 第18-20页 |
第三章 W 公司 ODM 项目测试质量现状和存在的问题 | 第20-35页 |
·W 公司概况和ODM 现状测试质量的现状 | 第20-27页 |
·W 公司简介 | 第20-21页 |
·W 公司ODM 项目管理和测试流程 | 第21-24页 |
·W 公司ODM 项目测试质量的现状 | 第24-27页 |
·W 公司ODM 项目测试质量管理存在的问题及原因分析 | 第27-32页 |
·ODM 项目测试质量验收目标不适应ODM 项目质量发展要求 | 第27-29页 |
·ODM 项目可制造性、可测性质量设计管理不规范 | 第29-30页 |
·ODM 项目测试质量预控机制缺失 | 第30-31页 |
·ODM 项目测试开发质量管理能力薄弱 | 第31页 |
·ODM 项目测试质量验收管理不规范 | 第31-32页 |
·W 公司ODM 项目测试质量改进的项目管理 | 第32-33页 |
·项目目标、范围和进度计划 | 第32-33页 |
·项目人员组织和职责 | 第33页 |
·本章小结 | 第33-35页 |
第四章 W 公司 ODM 项目测试质量改进 | 第35-49页 |
·优化完善W 公司ODM 项目测试质量目标 | 第35-38页 |
·优化完善测试生产率质量目标 | 第35-36页 |
·优化完善测试可测率质量目标 | 第36-38页 |
·规范加强W 公司ODM 项目可制造性、可测性质量设计 | 第38-41页 |
·规范完善可制造性、可测性质量设计规则 | 第38-39页 |
·规范加强可制造性、可测性质量设计检查 | 第39-40页 |
·加强可制造性、可测性质量设计审批流程 | 第40-41页 |
·建立W 公司ODM 项目可测率质量预控机制 | 第41-44页 |
·建立可测率质量风险评估系统 | 第41-43页 |
·建立关键影响可测率质量的重要芯片质量预控机制 | 第43-44页 |
·加强W 公司ODM 项目测试开发质量管理 | 第44-46页 |
·加强测试方法策略管理 | 第44-45页 |
·加强可测率质量验证 | 第45-46页 |
·规范加强W 公司ODM 项目测试质量验收控制 | 第46-48页 |
·规范加强项目测试质量验收流程 | 第46-47页 |
·规范加强项目测试质量验收实施过程管理 | 第47-48页 |
·本章小结 | 第48-49页 |
第五章 W 公司 ODM 项目测试质量改进的实施成效 | 第49-51页 |
·测试质量目标的达成 | 第49-50页 |
·测试质量最终指标的提升 | 第50-51页 |
第六章 总结与展望 | 第51-52页 |
·总结 | 第51页 |
·本文的不足及展望 | 第51-52页 |
参考文献 | 第52-53页 |
致谢 | 第53-54页 |
攻读硕士期间发表的学术论文 | 第54-56页 |