| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 1 绪论 | 第8-11页 |
| ·引言 | 第8页 |
| ·散裂中子源的发展概况和主要技术特点 | 第8-9页 |
| ·论文研究背景和主要研究内容 | 第9-11页 |
| 2 散裂中子源概述 | 第11-23页 |
| ·引言 | 第11-12页 |
| ·中子的特性 | 第12-13页 |
| ·什么是散裂中子源？ | 第13-14页 |
| ·世界上散裂中子源简介 | 第14-21页 |
| ·美国散裂中子源SNS | 第14-18页 |
| ·中国散裂中子源CSNS | 第18-21页 |
| ·散裂中子源研究的意义 | 第21-22页 |
| ·小结 | 第22-23页 |
| 3 散裂中子源RCS 低电平控制系统 | 第23-35页 |
| ·引言 | 第23页 |
| ·铁氧体加载的高频谐振腔介绍 | 第23-25页 |
| ·CSNS 的RCS 高频腔低电平控制系统介绍 | 第25-34页 |
| ·美国散裂中子源（SNS）的低电平控制系统 | 第26-28页 |
| ·日本J-PARC 粒子同步加速器的低电平控制系统 | 第28-30页 |
| ·CSNS 高频腔低电平控制系统的原理和研究 | 第30-34页 |
| ·小结 | 第34-35页 |
| 4 CSNS 低电平数字控制系统的实现研究 | 第35-44页 |
| ·引言 | 第35页 |
| ·传统的低电平控制系统 | 第35-36页 |
| ·模拟I/Q 调制解调原理和框图 | 第36-38页 |
| ·I/Q 调制解调的原理 | 第36-37页 |
| ·模拟I/Q 解调模块 | 第37-38页 |
| ·基于4N 倍频采样的全数字I/Q 调制解调方法 | 第38-43页 |
| ·小结 | 第43-44页 |
| 5 超导腔垂直测量原理和超导铌材的RRR 值测量系统 | 第44-62页 |
| ·引言 | 第44页 |
| ·超导腔参数指标——剩余电阻率比 | 第44-46页 |
| ·四线法测量电阻的原理 | 第46-50页 |
| ·导体的热电势 | 第50-52页 |
| ·剩余电阻率比测量系统 | 第52-61页 |
| ·小结 | 第61-62页 |
| 6 总结 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-67页 |
| 附录1 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第67-68页 |
| 附录2 文中术语解释 | 第68页 |