IP软核复用技术研究
中文摘要 | 第1-7页 |
ABSTRACT | 第7-10页 |
1 引言 | 第10-14页 |
·SoC 概述 | 第10-12页 |
·数字IC 设计的发展 | 第10-11页 |
·基于IP 核复用的SoC 设计 | 第11-12页 |
·研究意义 | 第12页 |
·本文工作 | 第12-14页 |
2 IP 软核复用技术基础 | 第14-19页 |
·相关技术和理论 | 第14-17页 |
·IP 软核设计流程 | 第14-15页 |
·IP 软核验证流程 | 第15页 |
·IP 软核使用 | 第15-16页 |
·IP 软核评估 | 第16-17页 |
·IP 软核复用技术现状 | 第17-19页 |
·IP 核复用的普遍性 | 第17页 |
·IP 核评估技术现状 | 第17-19页 |
3 IP 软核评估技术 | 第19-37页 |
·存在的问题 | 第19-22页 |
·评估目标和指标 | 第20-21页 |
·评估方法 | 第21-22页 |
·IP 软核可用性评估 | 第22-31页 |
·IP 软核初选原则 | 第22-23页 |
·交付项完整性考查 | 第23-24页 |
·设计文件初步考查 | 第24-26页 |
·验证文件质量评估 | 第26-31页 |
·IP 软核性能评估 | 第31-37页 |
·IP 软核的综合 | 第32页 |
·工作速度 | 第32-33页 |
·面积 | 第33-34页 |
·功耗 | 第34-37页 |
4 C8051IP 软核可用性评估 | 第37-49页 |
·C8051IP 软核简介 | 第37页 |
·C8051IP 软核交付项完整性考查 | 第37-38页 |
·C8051IP 软核设计文件初步考查 | 第38-40页 |
·C8051IP 软核验证文件考查 | 第40-49页 |
·C8051IP 软核验证策略概述 | 第40-43页 |
·综合前仿真考查 | 第43-46页 |
·结果分析与改进 | 第46-49页 |
5 C8051IP 软核性能评估 | 第49-59页 |
·C8051IP 软核性能评估概述 | 第49页 |
·工作速度和面积分析 | 第49-52页 |
·C8051IP 软核综合后仿真 | 第52-55页 |
·综合后仿真验证策略 | 第52页 |
·C8051IP 软核后仿真 | 第52-55页 |
·C8051IP软核功耗分析 | 第55-59页 |
6 结论 | 第59-60页 |
参考文献 | 第60-62页 |
附录 A | 第62-64页 |
附录 B | 第64-66页 |
附录 C | 第66-67页 |
作者简历 | 第67-69页 |
学位论文数据集 | 第69页 |