0.35um标准单元库的设计技术研究及实现
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 引言 | 第7-11页 |
| ·建库背景 | 第7-9页 |
| ·标准单元库现状 | 第9页 |
| ·本论文的主要工作 | 第9-10页 |
| ·小结 | 第10-11页 |
| 第二章 建库流程 | 第11-15页 |
| ·设计方法及建库基础 | 第11-13页 |
| ·建库流程 | 第13-14页 |
| ·建库内容 | 第14页 |
| ·小结 | 第14-15页 |
| 第三章版图库 | 第15-39页 |
| ·0.35UM 工艺的设计规则 | 第15-20页 |
| ·版图设计生成 | 第20-24页 |
| ·画版图一般步骤 | 第24-25页 |
| ·版图验证 | 第25-29页 |
| ·版图库中的版图 | 第29-38页 |
| ·小结 | 第38-39页 |
| 第四章 布局布线库 | 第39-53页 |
| ·布图规划和布局 | 第39-40页 |
| ·布线 | 第40页 |
| ·布局布线库的生成 | 第40-52页 |
| ·小结 | 第52-53页 |
| 第五章 符号库和时序库 | 第53-74页 |
| ·符号库 | 第53-54页 |
| ·单元特征化时序库 | 第54-58页 |
| ·0.35UM 标准单元库中单元的符号库和时序库 | 第58-73页 |
| ·小结 | 第73-74页 |
| 第六章仿真库和综合库 | 第74-80页 |
| ·仿真库 | 第74-77页 |
| ·综合库 | 第77-79页 |
| ·小结 | 第79-80页 |
| 第七章测试芯片设计工艺验证 | 第80-83页 |
| ·芯片的两次测试和所用到的测试技术 | 第80-81页 |
| ·本文建库中验证的主要内容 | 第81-82页 |
| ·工艺验证 | 第82页 |
| ·小结 | 第82-83页 |
| 第八章结束语 | 第83-84页 |
| 参考文献 | 第84-87页 |
| 作者在攻读硕士学位期间发表的论文 | 第87-88页 |
| 致谢 | 第88页 |
