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三维微表面相移干涉术研究

摘要第1-3页
ABSTRACT第3-7页
第一章 绪论第7-20页
 §1.1 引言第7-9页
 §1.2 表面微观形貌测量技术第9-14页
  §1.2.1 光学测量法第10-11页
  §1.2.2 探针测量法第11-12页
  §1.2.3 各种测量方法的比较第12-14页
 §1.3 相移干涉术的研究现状和发展趋势第14-15页
  §1.3.1 相位提取算法第14页
  §1.3.2 相位解包裹算法第14-15页
 §1.4 本课题的主要研究目标和内容第15-16页
 §1.5 本章小结第16-17页
 参考文献第17-20页
第二章 相移干涉术的理论基础第20-43页
 §2.1 常用干涉显微机构第20-23页
  §2.1.1 双光路干涉显微镜第20-22页
  §2.1.2 共光路干涉显微镜第22-23页
 §2.2 位相测量方法综述第23-26页
  §2.2.1 传统条纹中心法第23-24页
  §2.2.2 外差法第24页
  §2.2.3 相移法第24-25页
  §2.2.4 变换法第25-26页
 §2.3 相移干涉术的基本测量原理第26-29页
  §2.3.1 步进式相移干涉术第27-28页
  §2.3.2 连续式相移干涉术第28-29页
 §2.4 相移技术第29-35页
  §2.4.1 压电控制技术第29-32页
  §2.4.2 步进电机控制技术第32-35页
   §2.4.2.1 步进电机第33-34页
   §2.4.2.2 步进电机驱动器第34页
   §2.4.2.3 步进电机运动控制器第34-35页
 §2.5 采样分析第35-36页
 §2.6 表面形貌的获取第36-38页
 §2.7 相移干涉术测量误差分析第38-39页
 §2.8 本章小结第39页
 参考文献第39-43页
第三章 相位提取技术及相位解包裹算法第43-71页
 §3.1 引言第43页
 §3.2 定步长相移算法第43-46页
  §3.2.1 三步法第43-44页
  §3.2.2 四步法第44页
  §3.2.3 五步法第44-45页
  §3.2.4 N帧算法第45页
  §3.2.5 位相平均法第45-46页
 §3.3 等步长相移算法第46-48页
  §3.3.1 Carre算法第46-47页
  §3.3.2 Stoilov算法第47-48页
  §3.3.3 Schwider算法第48页
 §3.4 非定步长相移算法第48-55页
  §3.4.1 最小二乘法第48-49页
  §3.4.2 Kong-Kim迭代算法第49-51页
  §3.4.3 改进的最小二乘法第51-53页
  §3.4.4 差分相移图法第53-55页
 §3.5 各种算法的误差分析和性能比较第55-60页
  §3.5.1 定步长算法第55-58页
  §3.5.2 等步长算法第58-59页
  §3.5.3 非定步长算法第59-60页
 §3.6 相位解包裹算法第60-66页
  §3.6.1 引言第60-61页
  §3.6.2 Flynn最小断点算法第61-66页
 §3.7 本章小结第66-67页
 参考文献第67-71页
第四章 实验结果及数据分析第71-88页
 §4.1 步进电机控制系统第71-73页
 §4.2 相移干涉术硬件实验平台第73-76页
 §4.3 数据采集第76-77页
 §4.4 数据分析第77-87页
  §4.4.1 数据初步分析第78页
  §4.4.2 数据进一步分析第78-79页
   §4.4.2.1 相移图差分法计算相移量第78-79页
   §4.4.2.2 改进的最小二乘法计算相移量第79页
  §4.4.3 数据最终分析及比较第79-87页
   §4.4.3.1 按照相移图差分法计算所得的相移量进行三维重建第79-81页
   §4.4.3.2 按照改进的最小二乘法计算所得的相移量进行三维重建第81-82页
   §4.4.3.3 各种算法重建的三维效果图及比较第82-87页
 §4.5 本章小结第87-88页
第五章 总结与展望第88-91页
 §5.1 本文所做的工作第88-89页
 §5.2 需要改进的地方第89-91页
致谢第91页

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