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遥感探测专用基准电压片内自校正的14位模数转换器

致谢第4-6页
摘要第6-7页
Abstract第7-8页
1. 引言第16-30页
    1.1. 研究背景及现状第17-28页
        1.1.1. CMOS有源像素传感器第17-21页
        1.1.2. 图像传感器读出电路的研究现状第21-23页
        1.1.3. 图像传感器的产品现状第23-26页
        1.1.4. 图像传感器读出电路的发展趋势第26-27页
        1.1.5. 遥感探测领域的图像传感器第27-28页
    1.2. 设计研究难点第28-29页
        1.2.1. 高精度基准电压第28页
        1.2.2. ADC尺寸(宽度方向)的限制第28页
        1.2.3. 高精度模数转换器芯片的测试第28-29页
    1.3. 论文的主要工作和组织框架第29-30页
2. CMOS图像传感器系统定义与模数转换器基本原理第30-43页
    2.1. CMOS图像传感器系统定义第30-33页
    2.2. LVDS高速读出接口第33-34页
    2.3. 常用的模数转换器第34-37页
        2.3.1. 单斜坡模数转换器第34-35页
        2.3.2. 循环模数转换器第35-36页
        2.3.3. 逐次逼近寄存器模数转换器第36-37页
    2.4. 逐次逼近寄存器模数转换器基本原理第37-43页
        2.4.1. 双基准电压逐次逼近寄存器模数转换器第37-39页
        2.4.2. 四基准电压逐次逼近寄存器模数转换器第39-41页
        2.4.3. 模数转换器设计指标参数第41-43页
3. 四基准电压逐次逼近寄存器模数转换器电路设计第43-53页
    3.1. 模数转换器的工作时序第43页
    3.2. 数模转换器的设计第43-45页
        3.2.1. 电容失配因素第44-45页
        3.2.2. 热噪声因素第45页
    3.3. 比较器的设计第45-50页
        3.3.1. 动态锁存比较器第46-47页
        3.3.2. 前置放大器第47-48页
        3.3.3. 失调消除电路第48-49页
        3.3.4. 带失调消除前置放大器的锁存比较器第49-50页
    3.4. 逐次逼近寄存器逻辑的设计第50-53页
4. 基准电压自校正算法设计第53-74页
    4.1. 影响模数转换器性能的因素第53-57页
        4.1.1. 电容不匹配和噪声第53页
        4.1.2. 比较器输入失调电压第53-54页
        4.1.3. 基准电压的精度第54-57页
    4.2. 基准电压自校正算法基本原理与校正流程第57-62页
        4.2.1. 校正算法基本原理与流程第57-58页
        4.2.2. 校正算法具体步骤和时序第58-62页
    4.3. 基准电压自校正算法建模与仿真第62-68页
        4.3.1. 校正算法MATLAB建模第62-63页
        4.3.2. MATLAB模型仿真验证第63-68页
    4.4. 自校正基准电压模块设计第68-74页
        4.4.1. 基准电压模块设计第68-72页
        4.4.2. 校正逻辑模块设计第72-74页
5. 芯片系统版图设计与仿真验证及测试第74-86页
    5.1. 版图设计第74-76页
        5.1.1. 模数转换器版图设计第74-75页
        5.1.2. 图像传感器芯片版图设计第75-76页
    5.2. 自校正基准电压仿真验证第76-80页
        5.2.1. 基准电压输出模块仿真第76-77页
        5.2.2. 自校正算法仿真第77-80页
    5.3. 模数转换器仿真验证第80-81页
    5.4. 芯片测试第81-86页
        5.4.1. 基准自校正算法测试结果第83-84页
        5.4.2. 模数转换器测试结果第84-86页
6. 总结与展望第86-90页
    6.1. 论文研究内容总结第86-87页
    6.2. 存在问题和不足第87-88页
    6.3. 未来研究展望第88-90页
参考文献第90-93页
作者简历及在攻读硕士学位期间主要研究成果第93页

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