低热电势多通道扫描开关研制
| 致谢 | 第5-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 1 绪论 | 第14-22页 |
| 1.1 研究背景 | 第14-17页 |
| 1.2 多通道扫描开关研究现状 | 第17-20页 |
| 1.2.1 机械运动型扫描开关 | 第17-19页 |
| 1.2.2 继电器型扫描开关 | 第19-20页 |
| 1.2.3 尚未解决的问题 | 第20页 |
| 1.3 研究内容与技术路线 | 第20-21页 |
| 1.4 小结 | 第21-22页 |
| 2 扫描开关热电势特性与测量原理 | 第22-38页 |
| 2.1 通道热电势模型的建立与分析 | 第22-25页 |
| 2.2 通道热电势测量方法研究 | 第25-29页 |
| 2.3 通道热电势影响因素分析 | 第29-37页 |
| 2.3.1 器件属性对通道热电势的影响 | 第29-31页 |
| 2.3.2 温度对通道热电势的影响 | 第31-36页 |
| 2.3.3 端子连接方式对通道热电势的影响 | 第36-37页 |
| 2.4 小结 | 第37-38页 |
| 3 低热电势结构设计与方法 | 第38-48页 |
| 3.1 贴壁式双层均温结构 | 第38-40页 |
| 3.2 机械压接式端子连接方法 | 第40-43页 |
| 3.3 接线端子筛选与配对方法 | 第43-45页 |
| 3.4 热隔离与电磁屏蔽结构 | 第45-47页 |
| 3.5 小结 | 第47-48页 |
| 4 扫描开关软硬件设计与实现 | 第48-62页 |
| 4.1 阵列式继电器驱动与状态检测方法 | 第48-54页 |
| 4.1.1 阵列式继电器驱动电路 | 第50-53页 |
| 4.1.2 阵列式继电器状态检测电路 | 第53-54页 |
| 4.2 系统电源分时管理方法 | 第54-55页 |
| 4.3 软件设计与实现 | 第55-61页 |
| 4.3.1 程控指令解析软件设计 | 第56-60页 |
| 4.3.2 通道切换控制软件设计 | 第60-61页 |
| 4.4 小结 | 第61-62页 |
| 5 扫描开关综合性能测试与分析 | 第62-82页 |
| 5.1 通道热电势指标测试与分析 | 第62-67页 |
| 5.2 通道热电势指标稳定性测试与分析 | 第67-73页 |
| 5.2.1 短期稳定性测试与分析 | 第67-68页 |
| 5.2.2 长期稳定性测试与分析 | 第68-69页 |
| 5.2.3 连续测量稳定性测试与分析 | 第69-73页 |
| 5.3 扫描开关在精密电测系统中的应用 | 第73-80页 |
| 5.3.1 电阻负载系数校准系统 | 第73-75页 |
| 5.3.2 标准电压测试系统 | 第75-79页 |
| 5.3.3 大电流测试系统 | 第79-80页 |
| 5.4 小结 | 第80-82页 |
| 6 总结与展望 | 第82-85页 |
| 6.1 总结 | 第82-83页 |
| 6.2 展望 | 第83-85页 |
| 参考文献 | 第85-89页 |
| 附录A 扫描开关通道热电势测量方法 | 第89-96页 |
| A.1 直接测量法 | 第89-90页 |
| A.2 极性翻转法 | 第90-91页 |
| A.3 交叉换向法 | 第91-93页 |
| A.4 一致性评估法 | 第93-96页 |
| 附录B 第三方检测报告 | 第96-105页 |
| 作者简历 | 第105-106页 |
