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二维过渡金属硫族化合物的表/界面及其范德华异质结光电性质的键弛豫理论研究

摘要第3-6页
Abstract第6-9页
第一章 绪论第14-36页
    1.1 二维材料简介第14-18页
    1.2 二维材料的光电性能调控第18-22页
    1.3 二维材料的应用第22-25页
    1.4 本论文研究的目的和内容第25-27页
    参考文献第27-36页
第二章 单轴拉应力对单层MOS_2能带漂移的影响第36-56页
    2.1 引言第36-37页
    2.2 理论模型第37-43页
        2.2.1 键弛豫理论第38-41页
        2.2.2 单轴拉伸应力下的带隙漂移第41-43页
    2.3 结果与讨论第43-49页
    2.4 小结第49-50页
    参考文献第50-56页
第三章 MoS_2/WSe_2能级排列和光电性质的尺寸效应第56-78页
    3.1 引言第56-58页
    3.2 理论模型第58-64页
        3.2.1 Shockley-Queisser极限第58-60页
        3.2.2 能带漂移和能级排列第60-62页
        3.2.3 MoS_2/WSe_2的光电性质第62-64页
    3.3 结果与讨论第64-70页
    3.4 小结第70-71页
    参考文献第71-78页
第四章 界面转角对双层MoS_2体系能带的影响第78-94页
    4.1 引言第78-80页
    4.2 界面转角与带隙的关系第80-83页
    4.3 结果与讨论第83-88页
    4.4 小结第88-89页
    参考文献第89-94页
第五章 过渡金属硫族化合物带隙的尺寸和组分调控第94-112页
    5.1 引言第94-95页
    5.2 尺寸和组分依赖的带隙漂移第95-98页
    5.3 结果与讨论第98-105页
    5.4 小结第105-106页
    参考文献第106-112页
第六章 总结和展望第112-116页
    6.1 总结第112-113页
    6.2 展望第113-116页
攻读博士学位期间完成的论文及获奖情况第116-118页
致谢第118-119页

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