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聚焦型高能离子微束技术的模拟研究

摘要第4-6页
Abstract第6-7页
第1章 绪论第13-35页
    1.1 课题背景及研究目的和意义第13-14页
    1.2 高能离子微束装置发展概述第14-20页
        1.2.1 高能离子微束装置简介第14-16页
        1.2.2 高能离子微束装置发展简史第16-18页
        1.2.3 高能离子微束装置现状及应用第18-20页
    1.3 聚焦型高能离子微束技术研究现状及发展趋势第20-33页
        1.3.1 国外研究现状第21-30页
        1.3.2 国内研究现状第30-32页
        1.3.3 发展趋势第32-33页
    1.4 技术挑战与本文研究内容第33-35页
第2章 离子光学理论与设计方法研究第35-54页
    2.1 引言第35页
    2.2 离子光学与束流传输学简要对比第35-36页
    2.3 聚焦型高能离子微束原理第36-44页
        2.3.1 离子束参数第37-38页
        2.3.2 狭缝系统第38-41页
        2.3.3 聚焦透镜组系统第41-44页
    2.4 离子光学理论与设计方法第44-53页
        2.4.1 一阶理论第44-45页
        2.4.2 像差理论第45-47页
        2.4.3 离子光学设计方法第47-51页
        2.4.4 四极磁铁的聚焦理论研究第51-53页
    2.5 本章小结第53-54页
第3章 狭缝系统Geant4模拟研究第54-69页
    3.1 引言第54页
    3.2 300MeV质子与钨靶的相互作用产物模拟研究第54-62页
        3.2.1 适用理论分析第55页
        3.2.2 SRIM与Geant4模拟研究第55-62页
    3.3 直线型狭缝系统建模分析第62-64页
        3.3.1 Geant4模型第62-63页
        3.3.2 出射粒子分析第63-64页
    3.4 弯转型狭缝系统建模研究第64-68页
        3.4.1 Geant4模型第65-66页
        3.4.2 出射粒子分析第66-67页
        3.4.3 不同能量质子和狭缝材料的影响第67-68页
    3.5 本章小结第68-69页
第4章 聚焦透镜组系统设计方法研究第69-90页
    4.1 引言第69页
    4.2 GeV质子聚焦透镜组系统设计方法研究第69-81页
        4.2.1 GeV质子加速器束流特点分析第70-72页
        4.2.2 聚焦透镜组系统的缩小倍数和磁刚度第72-73页
        4.2.3 GeV质子聚焦透镜组系统设计与分析第73-81页
    4.3 应用于300MeV质子聚焦透镜组系统设计与分析第81-89页
        4.3.1 应用需求分析第81-82页
        4.3.2 聚焦透镜组结构及特点第82-85页
        4.3.3 公差分析及离子追迹第85-89页
    4.4 本章小结第89-90页
第5章 300MeV质子聚焦透镜组系统球差优化研究第90-109页
    5.1 引言第90页
    5.2 球差分析与优化方法第90-96页
        5.2.1 四极磁铁球差第91-95页
        5.2.2 八极磁铁球差第95-96页
        5.2.3 球差优化方法第96页
    5.3 边缘场对300MeV质子聚焦透镜组系统的影响第96-103页
        5.3.1 四极磁铁的磁场模型第97页
        5.3.2 四极磁铁设计第97-100页
        5.3.3 固有像差简化第100-102页
        5.3.4 边缘场对300MeV质子聚焦透镜组系统的影响第102-103页
    5.4 300MeV质子聚焦透镜组系统球差优化研究第103-108页
        5.4.1 单个八极磁铁在不同位置的球差贡献第103-105页
        5.4.2 300MeV质子聚焦透镜组系统球差优化第105-108页
    5.5 本章小结第108-109页
结论第109-111页
参考文献第111-122页
攻读博士学位期间发表的论文及其它成果第122-124页
致谢第124-126页
个人简历第126页

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