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基于全息工艺的特种光栅的制备与应用研究

中文摘要第6-8页
ABSTRACT第8-9页
第一章 绪论第13-22页
    1.1 衍射光栅的发展概述及其分类第13-14页
    1.2 全息光栅及全息闪耀光栅的发展历史第14-15页
    1.3 中阶梯光栅的研究现状第15-17页
    1.4 傅里叶合成曝光思想的由来第17页
    1.5 金属线栅偏振器的研究进展第17-19页
    1.6 本文的研究内容第19-22页
第二章 傅里叶合成曝光的理论基础第22-31页
    2.1 光刻胶的特性第22-24页
    2.2 光刻胶曝光、显影的数学模型第24-28页
        2.2.1 光刻胶中光强分布计算第24-25页
        2.2.2 显影速率的计算第25-28页
    2.3 傅里叶分解及合成曝光原理第28-30页
    2.4 本章小结第30-31页
第三章 金属线栅偏振器的理论基础第31-47页
    3.1 亚波长光栅矢量算法比较第31-32页
    3.2 时域有限差分法简介第32-42页
        3.2.1 FDTD的Yee氏网格第32-33页
        3.2.2 Maxwell方程FDTD的差分格式第33-35页
        3.2.3 一维问题第35-36页
        3.2.4 二维问题第36-37页
        3.2.5 三维问题第37-41页
        3.2.6 解的稳定性第41页
        3.2.7 数值色散第41-42页
    3.3 Lumerical FDTD solutions软件特性介绍第42-43页
    3.4 金属线栅偏振特性的等效折射率解释第43-46页
    3.5 本章小结第46-47页
第四章 全息中阶梯光栅的制备研究第47-62页
    4.1 全息中阶梯光栅曝光光路设计第47-54页
        4.1.1 CCD监测系统第48-51页
        4.1.2 压电陶瓷位相调节系统第51-52页
        4.1.3 曝光过程监测系统第52-54页
    4.2 全息中阶梯光栅的制作工艺研究第54-59页
        4.2.1 基片预处理第54-56页
        4.2.2 匀胶第56-57页
        4.2.3 前烘第57-58页
        4.2.4 曝光、显影及后烘第58-59页
    4.3 实验结果与讨论第59-61页
    4.5 本章小结第61-62页
第五章 金属线栅偏振器特性与全息制作工艺研究第62-81页
    5.1 金属线栅偏振器的指标及结构参数第62-63页
    5.2 单层金属线栅偏振器的特性研究第63-74页
        5.2.1 线栅周期对线栅性能的影响第64-65页
        5.2.2 金属材料对线栅性能的影响第65-66页
        5.2.3 基底材料对线栅性能的影响第66-67页
        5.2.4 槽型对线栅性能的影响第67-69页
        5.2.5 占空比对线栅性能的影响第69-70页
        5.2.6 槽深对线栅性能的影响第70-72页
        5.2.7 入射角偏差对金属线栅偏振性能的影响第72-74页
    5.3 红外金属线栅偏振器的设计与制备第74-77页
        5.3.1 近红外波段金属线栅偏振器的设计第74-75页
        5.3.2 金属线栅偏振器的制作工艺第75-77页
    5.4 偏振透过率的测试与误差分析第77-80页
    5.5 本章小结第80-81页
第六章 双层金属线栅结构的特性及应用研究第81-102页
    6.1 引言第81页
    6.2 结构参数对双层线栅性能的影响第81-87页
    6.3 紫外可调谐型金属线栅偏振器第87-91页
    6.4 基于双层光栅的极低反射表面第91-98页
        6.4.1 减反射表面工作原理第91-93页
        6.4.2 单层亚波长光栅的减反射效果分析第93-95页
        6.4.3 二维光栅结构的减反射特性第95-97页
        6.4.4 双层光栅结构的减反射特性第97-98页
    6.5 基于双层金属线栅的折射率传感器第98-101页
    6.6 本章小结第101-102页
第七章 总结与展望第102-104页
参考文献第104-118页
在读期间公开发表的论文和承担科研项目及取得成果第118-120页
致谢第120页

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