| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-12页 |
| 前言 | 第12-13页 |
| 第一章 文献综述 | 第13-35页 |
| ·纳滤膜概述 | 第13-14页 |
| ·纳滤膜介绍 | 第13页 |
| ·纳滤技术的特点 | 第13-14页 |
| ·纳滤膜材料及分类 | 第14页 |
| ·纳滤膜制备技术 | 第14页 |
| ·纳滤膜荷电性能及其表征 | 第14-24页 |
| ·纳滤膜荷电性及其来源 | 第14-15页 |
| ·纳滤膜动电现象 | 第15-18页 |
| ·动电法纳滤膜表面荷电性能的表征 | 第18-22页 |
| ·流动电位法用于膜表面荷电性能表征研究进展 | 第22-24页 |
| ·纳滤膜传质机理模型 | 第24-33页 |
| ·非平衡热力学模型 | 第25-26页 |
| ·细孔模型 | 第26-28页 |
| ·电荷模型 | 第28-30页 |
| ·静电作用和位阻模型 | 第30-33页 |
| ·本文主要工作 | 第33-35页 |
| 第二章 纳滤膜表面荷电性能表征方法的建立 | 第35-53页 |
| ·测量原理 | 第35-39页 |
| ·Zeta电位理论推导 | 第35-37页 |
| ·双电层厚度 | 第37-38页 |
| ·表面电荷密度和表面电势的关系 | 第38-39页 |
| ·流动电位实验设备 | 第39-40页 |
| ·实验试剂与仪器 | 第40-41页 |
| ·实验所用试剂 | 第40-41页 |
| ·实验所用仪器 | 第41页 |
| ·实验步骤 | 第41-42页 |
| ·实验条件的建立 | 第42-50页 |
| ·电极的选择 | 第42-43页 |
| ·温度影响 | 第43页 |
| ·膜片浸泡时间影响 | 第43-44页 |
| ·流道高度的确定 | 第44-46页 |
| ·压差影响 | 第46-48页 |
| ·流道高度与压差适用性综合分析 | 第48-49页 |
| ·浓度适用性分析 | 第49-50页 |
| ·电导测量 | 第50-51页 |
| ·小结 | 第51-53页 |
| 第三章 纳滤膜表面Zeta电位和表面电荷密度 | 第53-72页 |
| ·电导测定对Zeta电位的影响 | 第53-56页 |
| ·低浓度时不同电导表示方法对Zeta电位的影响 | 第53-54页 |
| ·不同浓度对电导的影响 | 第54-56页 |
| ·浓度对膜表面流动电位、Zeta电位及膜表面电荷密度的影响 | 第56-60页 |
| ·浓度对膜表面流动电位、Zeta电位的影响 | 第56-59页 |
| ·浓度对膜表面电荷密度的影响 | 第59-60页 |
| ·同离子、反离子吸附影响分析 | 第60-62页 |
| ·pH值对流动电位、Zeta电位的影响 | 第62-65页 |
| ·电解质溶液pH值对膜表面流动电位的影响 | 第62-63页 |
| ·电解质溶液pH值对膜表面Zeta电位的影响 | 第63-64页 |
| ·Pt电极与Ag-AgCl电极对比 | 第64-65页 |
| ·离子半径对膜表面流动电位、Zeta电位影响 | 第65-67页 |
| ·混合离子效应对流动电位、Zeta电位的影响 | 第67-70页 |
| ·透过实验分析 | 第70-71页 |
| ·小结 | 第71-72页 |
| 第四章 纳滤截留机理研究 | 第72-90页 |
| ·理论模型 | 第72-73页 |
| ·实验装置 | 第73-75页 |
| ·实验所用试剂与仪器 | 第75页 |
| ·实验所用试剂 | 第75页 |
| ·实验所用仪器 | 第75页 |
| ·分析方法与原理 | 第75-76页 |
| ·单一电解质体系 | 第75-76页 |
| ·中性溶质分子 | 第76页 |
| ·模型参数的确定 | 第76-83页 |
| ·浓差极化下的传质计算 | 第76-79页 |
| ·膜孔半径 | 第79-81页 |
| ·膜厚 | 第81-82页 |
| ·等效体积电荷密度 | 第82-83页 |
| ·DSPM模型预测 | 第83-88页 |
| ·小结 | 第88-90页 |
| 第五章 结论及展望 | 第90-92页 |
| 参考文献 | 第92-98页 |
| 附录A DSPM模型简化方法 | 第98-101页 |
| 致谢 | 第101-102页 |
| 个人简历 | 第102页 |
| 发表的学术论文 | 第102页 |