插拔对电连接器接触件贮存寿命影响的研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-20页 |
| 1.1 研究背景、目的和意义 | 第9-10页 |
| 1.2 型号及其上元器件贮存寿命研究现状 | 第10-13页 |
| 1.3 加速寿命和加速退化试验研究现状 | 第13-16页 |
| 1.4 电连接器贮存寿命研究现状 | 第16-18页 |
| 1.5 本文主要研究内容 | 第18-20页 |
| 1.5.1 课题来源与研究目标 | 第18页 |
| 1.5.2 主要研究内容 | 第18-20页 |
| 第二章 电连接器的贮存剖面和失效机理分析 | 第20-34页 |
| 2.1 引言 | 第20页 |
| 2.2 电连接器的典型类型 | 第20-23页 |
| 2.2.1 型号上电连接器的使用情况 | 第20-21页 |
| 2.2.2 型号对其上电连接器的功能要求 | 第21页 |
| 2.2.3 型号上电连接器的典型类型 | 第21-23页 |
| 2.3 贮存任务剖面和失效模式分析 | 第23-27页 |
| 2.3.1 电连接器的结构材料 | 第23-24页 |
| 2.3.2 电连接器的贮存任务剖面 | 第24-26页 |
| 2.3.3 电连接器的贮存失效模式 | 第26-27页 |
| 2.4 贮存期间的失效机理分析 | 第27-32页 |
| 2.4.1 电连接器接触件的表面微观接触 | 第27-28页 |
| 2.4.2 氧化腐蚀对失效过程的影响 | 第28-29页 |
| 2.4.3 插拔对失效过程的影响 | 第29-32页 |
| 2.5 本章小结 | 第32-34页 |
| 第三章 计入插拔的电连接器加速退化试验研究 | 第34-59页 |
| 3.1 引言 | 第34页 |
| 3.2 常温下的频繁插拔摸底试验研究 | 第34-40页 |
| 3.2.1 摸底试验方法 | 第34-36页 |
| 3.2.2 试验数据统计分析 | 第36-40页 |
| 3.3 计入插拔的加速退化试验研究 | 第40-52页 |
| 3.3.1 加速退化试验方法 | 第40-45页 |
| 3.3.2 试验数据统计分析 | 第45-52页 |
| 3.4 试验样品微观接触表面分析 | 第52-58页 |
| 3.4.1 摸底试验样品SEM和EDS分析 | 第52-54页 |
| 3.4.2 加速退化试验样品SEM和EDS分析 | 第54-58页 |
| 3.5 本章小结 | 第58-59页 |
| 第四章 计入插拔的电连接器接触件贮存寿命估计 | 第59-71页 |
| 4.1 引言 | 第59页 |
| 4.2 计入插拔的电连接器接触电阻模型 | 第59-64页 |
| 4.2.1 计入插拔的电连接器接触电阻数学模型 | 第59-63页 |
| 4.2.2 计入插拔的接触电阻退化模型 | 第63-64页 |
| 4.3 退化模型参数估计方法 | 第64-67页 |
| 4.3.1 统计模型 | 第64-65页 |
| 4.3.2 模型参数估计 | 第65-67页 |
| 4.4 计入插拔的性能退化轨迹建立 | 第67-69页 |
| 4.4.1 对照组性能退化轨迹建立 | 第67页 |
| 4.4.2 插拔组性能退化轨迹建立 | 第67-69页 |
| 4.4.3 计入插拔的电连接器接触件寿命估计 | 第69页 |
| 4.5 本章小结 | 第69-71页 |
| 第五章 总结与展望 | 第71-73页 |
| 5.1 总结 | 第71-72页 |
| 5.2 展望 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-77页 |
| 致谢 | 第77-78页 |
| 附录：部分试验数据 | 第78-82页 |
| 攻读硕士期间科研成果和参与项目情况 | 第82页 |
