| 学位论文数据集 | 第3-4页 |
| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第14-30页 |
| 1.1 膜的定义和分类 | 第14-16页 |
| 1.2 膜分离方式 | 第16-18页 |
| 1.3 无机膜制备方法 | 第18-20页 |
| 1.3.1 溶胶-凝胶法 | 第18-19页 |
| 1.3.2 固态粒子烧结法 | 第19页 |
| 1.3.3 阳极氧化法 | 第19页 |
| 1.3.4 薄膜沉积法 | 第19页 |
| 1.3.5 滴落涂布法 | 第19页 |
| 1.3.6 真空抽滤法 | 第19-20页 |
| 1.3.7 原位水热合成法 | 第20页 |
| 1.3.8 陶瓷膜缺陷的形成和控制 | 第20页 |
| 1.4 膜的表征 | 第20-22页 |
| 1.4.1 带电性 | 第20-21页 |
| 1.4.2 孔径大小和孔隙率 | 第21页 |
| 1.4.3 元素和物相结构组成 | 第21页 |
| 1.4.4 表面形态和粗糙度 | 第21-22页 |
| 1.4.5 过滤性能 | 第22页 |
| 1.5 膜的分离机理 | 第22-23页 |
| 1.6 陶瓷膜的应用 | 第23-25页 |
| 1.7 膜器件 | 第25-27页 |
| 1.8 无机膜的展望 | 第27-28页 |
| 1.9 关于本文 | 第28-30页 |
| 1.9.1 目的和意义 | 第28页 |
| 1.9.2 研究内容 | 第28-30页 |
| 第二章 凹凸棒土膜的制备与表征 | 第30-47页 |
| 2.1 引言 | 第30-32页 |
| 2.2 实验部分 | 第32-36页 |
| 2.2.1 实验试剂与仪器设备 | 第32-34页 |
| 2.2.2 陶土-酸改性粉煤灰片状基体的制备 | 第34页 |
| 2.2.3 管状基体预处理 | 第34页 |
| 2.2.4 凹凸棒土膜的制备 | 第34页 |
| 2.2.5 模拟废水的配制 | 第34页 |
| 2.2.6 测试与表征 | 第34-36页 |
| 2.2.6.1 纯水通量 | 第34-35页 |
| 2.2.6.2 孔隙率 | 第35页 |
| 2.2.6.3 孔径分布 | 第35页 |
| 2.2.6.4 去除率的测定 | 第35-36页 |
| 2.3 基体的选择 | 第36-37页 |
| 2.4 结果与讨论 | 第37-46页 |
| 2.4.1 管状三氧化二铝基体外表面凹凸棒土膜制备方法 | 第37-40页 |
| 2.4.2 陶土-酸改性粉煤灰基体及凹凸棒土膜的表征结果 | 第40-43页 |
| 2.4.2.1 表面形貌 | 第40-41页 |
| 2.4.2.2 结构组成 | 第41-42页 |
| 2.4.2.3 纯水通量 | 第42页 |
| 2.4.2.4 孔径分布及基体孔隙率 | 第42-43页 |
| 2.4.3 管状与片状凹凸棒土膜的比较 | 第43-46页 |
| 2.4.3.1 表面形貌 | 第43-44页 |
| 2.4.3.2 孔径分布及孔隙率 | 第44-45页 |
| 2.4.3.3 离子去除率 | 第45-46页 |
| 2.5 本章小结 | 第46-47页 |
| 第三章 无机离子去除及机理探讨 | 第47-58页 |
| 3.1 引言 | 第47-48页 |
| 3.2 实验部分 | 第48页 |
| 3.2.1 测试与表征 | 第48页 |
| 3.3 结果与讨论 | 第48-56页 |
| 3.3.1 片状凹凸棒土膜对无机离子的去除及机理 | 第48-53页 |
| 3.3.1.1 磷酸根离子 | 第48-50页 |
| 3.3.1.2 钙离子 | 第50-52页 |
| 3.3.1.3 氯离子 | 第52-53页 |
| 3.3.2 管状Al_2O_3基体和凹凸棒土膜对不同离子的去除性能 | 第53-56页 |
| 3.3.2.1 磷酸根离子 | 第53页 |
| 3.3.2.2 亚铁离子 | 第53-54页 |
| 3.3.2.3 钙离子 | 第54-55页 |
| 3.3.2.4 氯离子 | 第55页 |
| 3.3.2.5 机理探讨 | 第55-56页 |
| 3.4 本章小结 | 第56-58页 |
| 第四章 高岭土膜的制备及性能研究 | 第58-75页 |
| 4.1 引言 | 第58-60页 |
| 4.2 实验部分 | 第60-64页 |
| 4.2.1 实验试剂与仪器设备 | 第60-62页 |
| 4.2.2 基体预处理 | 第62页 |
| 4.2.3 高岭土膜的制备 | 第62页 |
| 4.2.4 模拟废水的配制 | 第62-63页 |
| 4.2.5 测试与表征 | 第63-64页 |
| 4.2.5.1 纯水通量 | 第63页 |
| 4.2.5.2 孔隙率 | 第63页 |
| 4.2.5.3 孔径分布 | 第63页 |
| 4.2.5.4 TG-DTA分析 | 第63页 |
| 4.2.5.5 去除率的测定 | 第63-64页 |
| 4.3 结果与讨论 | 第64-74页 |
| 4.3.1 SiO_2基体的性质 | 第64-67页 |
| 4.3.1.1 表面形貌及孔径分布 | 第64-65页 |
| 4.3.1.2 结构组成 | 第65-66页 |
| 4.3.1.3 热稳定性 | 第66-67页 |
| 4.3.2 高岭土膜的性质 | 第67-70页 |
| 4.3.2.1 表面形貌及孔径分布 | 第67-69页 |
| 4.3.2.2 膜的成分和结构组成 | 第69-70页 |
| 4.3.3 基体的过滤性能 | 第70-73页 |
| 4.3.4 膜的过滤性能 | 第73-74页 |
| 4.4 本章小结 | 第74-75页 |
| 第五章 结论 | 第75-77页 |
| 参考文献 | 第77-86页 |
| 致谢 | 第86-87页 |
| 研究成果及发表的学术论文 | 第87-88页 |
| 作者和导师简介 | 第88-89页 |
| 附件 | 第89-90页 |
