| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-13页 |
| 1.1 课题研究的目的与意义 | 第8-10页 |
| 1.1.1 课题研究背景 | 第8页 |
| 1.1.2 高频变压器的设计准则 | 第8-9页 |
| 1.1.3 课题研究意义 | 第9-10页 |
| 1.2 本课题的国内外研究现状 | 第10-11页 |
| 1.2.1 电磁性能研究 | 第10页 |
| 1.2.2 磁芯优选和绕组优化优化 | 第10-11页 |
| 1.2.3 场路耦合仿真研究 | 第11页 |
| 1.3 本文研究内容 | 第11-13页 |
| 第2章 高频变压器磁芯结构及铁损研究 | 第13-34页 |
| 2.1 高频变压器工作环境及性能指标 | 第13页 |
| 2.2 AP法变压器结构的设计及有限元分析 | 第13-20页 |
| 2.2.1 AP法变压器结构设计 | 第13-14页 |
| 2.2.2 AP法模型的磁饱和特性有限元分析 | 第14-15页 |
| 2.2.3 场路耦合仿真平台 | 第15-20页 |
| 2.3 不同磁芯的磁饱和性能研究 | 第20-22页 |
| 2.4 铁损的计算 | 第22-25页 |
| 2.4.1 基于修正Steinmetz公式的铁损计算 | 第22-23页 |
| 2.4.2 有限元法铁损仿真 | 第23-25页 |
| 2.5 不同磁芯的温度场仿真 | 第25-31页 |
| 2.5.1 高频变压器基本结构及冷却方式 | 第25-26页 |
| 2.5.2 仿真计算 | 第26-31页 |
| 2.6 高频变压器关实验 | 第31-33页 |
| 2.6.1 高频变压器相关参数的测定 | 第31-32页 |
| 2.6.2 利用示波器检测高频变压器磁饱和 | 第32-33页 |
| 2.7 结论 | 第33-34页 |
| 第3章 高频变压器高频铜耗的研究 | 第34-51页 |
| 3.1 导体的趋肤效应和临近效应 | 第34-36页 |
| 3.1.1 趋肤效应 | 第34-35页 |
| 3.1.2 邻近效应 | 第35-36页 |
| 3.2 高频铜损影响 | 第36-45页 |
| 3.2.1 频率与高频铜耗的影响 | 第36-37页 |
| 3.2.2 绕组线径与高频铜耗的关系 | 第37-38页 |
| 3.2.3 绕组并绕根数与高频铜耗的关系 | 第38-40页 |
| 3.2.4 交叉换位高频铜耗的影响 | 第40-43页 |
| 3.2.5 绕组摆放位置与高频铜耗的关系 | 第43-45页 |
| 3.3 基于有限元法设计绕组 | 第45-48页 |
| 3.4 高频铜耗实验 | 第48-49页 |
| 3.5 本章小结 | 第49-51页 |
| 第4章 高频电源场路耦合仿真研究 | 第51-57页 |
| 4.1 控制芯片UCCX8C40的介绍 | 第51-52页 |
| 4.2 主要指标及电路结构 | 第52-53页 |
| 4.3 波形仿真与结果分析 | 第53-55页 |
| 4.4 仿真实验测试 | 第55-56页 |
| 4.4.1 准确度及调整率仿真测试 | 第55页 |
| 4.4.2 纹波测试 | 第55-56页 |
| 4.5 本章小结 | 第56-57页 |
| 第5章 总结与展望 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 附录 | 第62页 |