| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-13页 |
| 符号对照表 | 第13-17页 |
| 缩略语对照表 | 第17-21页 |
| 第一章 绪论 | 第21-27页 |
| ·研究背景和研究意义 | 第21-22页 |
| ·低剂量率损伤增强效应国内外研究现状 | 第22-25页 |
| ·国外研究现状 | 第22-24页 |
| ·国内研究现状 | 第24-25页 |
| ·论文的主要内容 | 第25-27页 |
| 第二章 双极型半导体器件的辐照退化效应及噪声理论 | 第27-41页 |
| ·辐照环境 | 第27-28页 |
| ·空间辐照环境 | 第27页 |
| ·核辐照环境 | 第27页 |
| ·模拟源环境 | 第27-28页 |
| ·硅双极半导体器件的辐照效应 | 第28-30页 |
| ·电离效应 | 第28-29页 |
| ·位移效应 | 第29-30页 |
| ·辐照在双极器件中产生的缺陷 | 第30-36页 |
| ·界面态 | 第30-33页 |
| ·氧化物陷阱电荷 | 第33-36页 |
| ·双极器件的噪声 | 第36-40页 |
| ·1/f噪声 | 第36-39页 |
| ·G-R噪声 | 第39页 |
| ·热噪声 | 第39-40页 |
| ·散粒噪声 | 第40页 |
| ·小结 | 第40-41页 |
| 第三章 双极晶体管低剂量率辐照损伤增强效应的1/f噪声表征研究 | 第41-65页 |
| ·引言 | 第41-42页 |
| ·PNP晶体管的辐照实验和结果 | 第42-50页 |
| ·双极晶体管的噪声测量方法 | 第42-45页 |
| ·双极晶体管的低频噪声测试系统 | 第45-47页 |
| ·实验样品和辐照实验 | 第47-48页 |
| ·实验结果 | 第48-50页 |
| ·PNP晶体管电离辐照效应研究 | 第50-59页 |
| ·发射结空间电荷区表面复合电流退化模型 | 第51-57页 |
| ·基于辐照效的PNP晶体管噪声模型 | 第57-59页 |
| ·实验结果分析 | 第59-63页 |
| ·基极电流退化 | 第59-61页 |
| ·基极电流噪声退化 | 第61-63页 |
| ·小结 | 第63-65页 |
| 第四章 NPN晶体管低剂量率辐照损伤增强效应的 1/f噪声表征以及辐照感生电荷分离的研究 | 第65-85页 |
| ·NPN晶体管辐照实验和结果 | 第65-68页 |
| ·实验 | 第65页 |
| ·实验结果 | 第65-68页 |
| ·NPN晶体管电离辐照效应研究 | 第68-76页 |
| ·基极表面耗尽 | 第69-71页 |
| ·电流退化模型 | 第71-73页 |
| ·1/f噪声表征模型 | 第73-74页 |
| ·实验结果分析 | 第74-76页 |
| ·基于 1/f噪声的NPN晶体管辐照感生电荷的定量分离方法 | 第76-83页 |
| ·现有的双极器件的辐照感生电荷的定量分离方法 | 第76-80页 |
| ·基于 1/f噪声的辐照感生电荷的分离方法 | 第80-83页 |
| ·小结 | 第83-85页 |
| 第五章 双极线性稳压器剂量率辐照损伤增强效应的 1/f噪 声表征研究 | 第85-101页 |
| ·引言 | 第85-86页 |
| ·实验与结果 | 第86-92页 |
| ·实验样品与实验方法 | 第86-87页 |
| ·线性集成稳压器的测试注意事项 | 第87页 |
| ·实验结果 | 第87-92页 |
| ·辐照损伤机理分析 | 第92-98页 |
| ·输出电压 | 第92-95页 |
| ·输出噪声 | 第95-98页 |
| ·小结 | 第98-101页 |
| 第六章 探测器电源电路的辐照效应的 1/f噪声表征研究 | 第101-109页 |
| ·探测器的电源电路 | 第101-104页 |
| ·电源电路的组成 | 第101-102页 |
| ·电源电路的各个组成部分的原理介绍 | 第102-104页 |
| ·稳压二极管的辐照效应 | 第104-106页 |
| ·实验 | 第104页 |
| ·结果与讨论 | 第104-106页 |
| ·电源电路的辐照效应 | 第106-108页 |
| ·实验 | 第106-107页 |
| ·结果与讨论 | 第107-108页 |
| ·小结 | 第108-109页 |
| 第七章 结论 | 第109-111页 |
| 参考文献 | 第111-125页 |
| 致谢 | 第125-127页 |
| 作者简介 | 第127-129页 |
