基于数字摄影测量的轨道板快速检测关键技术研究
摘要 | 第1页 |
Abstract | 第7-8页 |
详细摘要 | 第8-11页 |
Detailed Abstract | 第11-17页 |
1 绪论 | 第17-33页 |
·选题背景与意义 | 第17-20页 |
·国内外研究现状 | 第20-29页 |
·工业测量技术现状 | 第20-24页 |
·轨道板检测技术研究现状 | 第24-29页 |
·存在的问题及现状 | 第29-30页 |
·问题一 | 第29页 |
·问题二 | 第29-30页 |
·本文主要研究内容 | 第30-31页 |
·小结 | 第31-33页 |
2 摄影测量关键技术与数据分析理论研究 | 第33-69页 |
·基本摄影几何 | 第33-35页 |
·近景摄影测量基本原理 | 第33-34页 |
·基于双(多)相机的测量原理 | 第34-35页 |
·基于单相机的测量原理 | 第35页 |
·摄影测量标志 | 第35-49页 |
·玻璃微珠反射材料 | 第36-38页 |
·基于微棱镜的回光反射材料 | 第38-41页 |
·标志中心点提取 | 第41-49页 |
·摄影相机的标定 | 第49-59页 |
·像点系统误差 | 第49-52页 |
·摄影相机标定算法 | 第52-54页 |
·相机标定实验 | 第54-56页 |
·相机内参数标定对精度的影响 | 第56-59页 |
·测量数据处理基本理论研究 | 第59-66页 |
·最小二乘原理及间接平差 | 第59-60页 |
·空间坐标转换 | 第60-63页 |
·非均匀有理 B 样条 | 第63-66页 |
·小结 | 第66-69页 |
3 基于稀疏矩阵的光束法平差研究 | 第69-83页 |
·概述 | 第69页 |
·稀疏矩阵及其基本性质 | 第69-70页 |
·LM 算法 | 第70-72页 |
·基于稀疏矩阵光束法平差 | 第72-78页 |
·算法实现 | 第78页 |
·稀疏矩阵平差实验 | 第78-82页 |
·中等规模平差实验对比实验 | 第78-81页 |
·较大数据计算验证实验 | 第81-82页 |
·小结 | 第82-83页 |
4 测量数据分析方法研究 | 第83-107页 |
·标准二次曲面测量数据分析方法研究 | 第83-88页 |
·平面拟合 | 第84-86页 |
·圆柱拟合 | 第86-88页 |
·基于自由曲面的测量数据分析方法 | 第88-105页 |
·四叉树求初值 | 第90-99页 |
·基于点云的匹配算法 | 第99-100页 |
·加速匹配算法研究 | 第100-103页 |
·基于 CAD 模型的最优拟合计算 | 第103-105页 |
·小结 | 第105-107页 |
5 轨道板检测系统设计与实验分析 | 第107-131页 |
·轨道板检测系统设计 | 第107-117页 |
·轨道板检测系统总体设计 | 第107-108页 |
·相机支撑与运载系统 | 第108-109页 |
·编码控制系统 | 第109-111页 |
·测量自动化控制系统 | 第111-112页 |
·测量相机标定系统 | 第112-113页 |
·轨道板检测摄影测量系统 | 第113-117页 |
·实验与结果分析 | 第117-129页 |
·实验方案设计 | 第117-118页 |
·实验方案实施 | 第118-120页 |
·实验数据处理 | 第120-122页 |
·检测效率与精度分析 | 第122-129页 |
·小结 | 第129-131页 |
6 结论与展望 | 第131-133页 |
·主要研究成果 | 第131页 |
·论文的创新点 | 第131页 |
·研究展望 | 第131-133页 |
参考文献 | 第133-141页 |
致谢 | 第141-143页 |
作者简介 | 第143页 |
在学期间发表的学术论文 | 第143页 |